芯片缺陷检测项目

Tips:需要了解项目细节或者相关技术支持,以下是联系方式。

邮箱:[email protected]

 Github源码:https://github.com/dlphay/halcon_dlphay

 (源码中去掉了部分核心代码,需要Github账号,将项目Star之后截图发到邮箱,我会把核心代码进行回复)

机器视觉项目----芯片缺陷检测

01 应用与背景

封装体检测的内容包括(括号内数字为检测编号):刮痕(00)、污迹(01)、破损(02)、未灌满(03)、
外溢(04)共 5 项检测内容。
印记检测的内容包括(括号内数字为检测编号):错字(10)、偏移(11)、漏印(12)、多印(13)、
模糊(14)、倾斜(15)、位移(16)、断字(17)、双层印(18)、无字模(19)共 10 项检测内容。
管脚检测的内容包括(括号内数字为检测编号):管脚缺失(20)、管脚破损(21)、管脚间距(22)、
管脚宽度(23)、管脚弯曲度(24)、管脚跨距(25)、管脚长度差异(26)、管脚站立高(27)、管脚共面
度(28)、管脚倾斜(29)共 10 项检测内容。
注:第(27)、(28)项未检测。 

 

芯片缺陷检测项目_第1张图片

 

 

 

 

02 优势对比

芯片缺陷检测项目_第2张图片

 

 

 

 

03 涉及视觉算法

芯片缺陷检测项目_第3张图片

04 注意事项

芯片缺陷检测项目_第4张图片

05 系统方案

详细请参考csdn链接:http://blog.csdn.net/dlphay/article/details/71191600

 

06 系统模块

芯片缺陷检测项目_第5张图片

芯片缺陷检测项目_第6张图片

芯片缺陷检测项目_第7张图片

NON_RETURN INIT_CAMERA_WINDOW(Hlong lWWindowID);
NON_RETURN INIT_OCR_CLASS_SVM(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_NCC_MODEL(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_FIND_OBJECT_YES_OR_NO(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_CONFIRM_OBJECT(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_LOCATION_CHAR_AND_LOGO(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_LOCATION_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_FONT_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_MEASURE_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_BACKUP_DATA_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_CALCULATE_RESULT_OF_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN DISPLAY_RESULT_OF_ALL(NON_FLAG);
NON_RETURN CLOSE_MEASURE_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN GET_CROP_IMAGE_ACTION(NON_FLAG);
NON_RETURN OCR_CORE_PRE_PROCESSING(NON_FLAG);
NON_RETURN OCR_ORDER_SELECTED_REGION(NON_FLAG);
NON_RETURN OCR_DO_OCR_CLASS_SVM(NON_FLAG);
NON_RETURN DISPLAY_OCR_RESULT(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_TRAIN_OCV_ACTION(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_TRAIN_OCV_VARMODEL(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_OCV_CORE(NON_FLAG);
NON_RETURN CLEAR_OCV_MODELDATA(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_TRAIN_OCV_ACTION_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_TRAIN_OCV_VARMODEL_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_OCV_CORE_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN CLEAR_OCV_MODELDATA_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_CAMERA_WINDOW(Hlong lWWindowID);
NON_RETURN INIT_OCR_CLASS_SVM(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_NCC_MODEL(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_FIND_OBJECT_YES_OR_NO(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_CONFIRM_OBJECT(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_LOCATION_CHAR_AND_LOGO(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_LOCATION_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_FONT_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_MEASURE_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_BACKUP_DATA_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_CALCULATE_RESULT_OF_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN DISPLAY_RESULT_OF_ALL(NON_FLAG);
NON_RETURN CLOSE_MEASURE_PIN(NON_FLAG);
NON_RETURN GET_CROP_IMAGE_ACTION(NON_FLAG);
NON_RETURN OCR_CORE_PRE_PROCESSING(NON_FLAG);
NON_RETURN OCR_ORDER_SELECTED_REGION(NON_FLAG);
NON_RETURN OCR_DO_OCR_CLASS_SVM(NON_FLAG);
NON_RETURN DISPLAY_OCR_RESULT(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_TRAIN_OCV_ACTION(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_TRAIN_OCV_VARMODEL(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_OCV_CORE(NON_FLAG);
NON_RETURN CLEAR_OCV_MODELDATA(NON_FLAG);
NON_RETURN INIT_TRAIN_OCV_ACTION_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_TRAIN_OCV_VARMODEL_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN ACTION_OCV_CORE_CAPSULE(NON_FLAG);
NON_RETURN CLEAR_OCV_MODELDATA_CAPSULE(NON_FLAG);

07 流程图

芯片缺陷检测项目_第8张图片
芯片缺陷检测项目_第9张图片

 

08结果展示

芯片缺陷检测项目_第10张图片
 

 

 

 

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