一：基本
Verilog中的变量有线网类型和寄存器类型。线网型变量综合成wire，而寄存器可能综合成WIRE，锁存器和触发器。
二：verilog语句结构到门级的映射
1、连续性赋值：assign
连续性赋值语句逻辑结构上就是将等式右边的驱动左边的结点。因些连续性赋值的目标结点总是综合成由组合逻辑驱动的结点。Assign语句中的延时综合时都将忽视。
2、过程性赋值：
过程性赋值只出现在always语句中。
阻塞赋值和非阻塞赋值就该赋值本身是没有区别的，只是对后面的语句有不同的影响。
建议设计组合逻辑电路时用阻塞赋值，设计时序电路时用非阻塞赋值。
过程性赋值的赋值对象有可能综合成wire,latch,和flip-flop，取决于具体状况。如，时钟控制下的非阻塞赋值综合成flip-flop。
过程性赋值语句中的任何延时在综合时都将忽略。
建议同一个变量单一地使用阻塞或者非阻塞赋值。
3、逻辑操作符：
逻辑操作符对应于硬件中已有的逻辑门
4、算术操作符：
Verilog中将reg视为有符号数，而integer视为有符号数。因此，进行有符号操作时使用integer,使用无符号操作时使用reg。
5、进位：
通常会将进行运算操作的结果比原操作数扩展一位，用来存放进位或者借位。如：
Wire [3:0] A,B;
Wire [4:0] C;
Assign C="A"+B;
C的最高位用来存放进位。
6、关系运算符：
关系运算符：<,>,<=,>=
和算术操作符一样，可以进行有符号和无符号运算，取决于数据类型是reg ，net还是integer。
7、相等运算符：==，！=
注意：===和！==是不可综合的。
可以进行有符号或无符号操作，取决于数据类型
8、移位运算符：
左移，右移，右边操作数可以是常数或者是变量，二者综合出来的结果不同。
9、部分选择：
部分选择索引必须是常量。
10、BIT选择：
BIT选择中的索引可以用变量，这样将综合成多路（复用）器。
11、敏感表：
Always过程中，所有被读取的数据，即等号右边的变量都要应放在敏感表中，不然，综合时不能正确地映射到所用的门。
12、IF：
如果变量没有在IF语句的每个分支中进行赋值，将会产生latch。如果IF语句中产生了latch，则IF的条件中最好不要用到算术操作。Case语句类似。Case的条款可以是变量。
如果一个变量在同一个IF条件分支中先赎值然后读取，则不会产生latch。如果先读取，后赎值，则会产生latch。
13、循环：
只有for-loop语句是可以综合的。
14、设计时序电路时，建议变量在always语句中赋值，而在该always语句外使用，使综合时能准确地匹配。建议不要使用局部变量。
15、不能在多个always块中对同一个变量赎值
16、函数
函数代表一个组合逻辑，所有内部定义的变量都是临时的，这些变量综合后为wire。
17、任务：
任务可能是组合逻辑或者时序逻辑，取决于何种情况下调用任务。
18、Z：
Z会综合成一个三态门，必须在条件语句中赋值
19、参数化设计：
优点：参数可重载，不需要多次定义模块
四：模块优化
1、资源共享：
当进程涉及到共用ALU时，要考虑资源分配问题。可以共享的操作符主要有：关系操作符、加减乘除操作符。通常乘和加不共用ALU，乘除通常在其内部共用。
2、共用表达式：
如：C=A+B;
D=G+(A+B);
两者虽然有共用的Ａ＋Ｂ，但是有些综合工具不能识别．可以将第二句改为：D=G+C；这样只需两个加法器．
3、转移代码：
如循环语句中没有发生变化的语句移出循环．
4、避免latch：
两种方法：1、在每一个IF分支中对变量赋值。2、在每一个IF语句中都对变量赋初值。
5：模块：
综合生成的存储器如ROM或RAM不是一种好方法。最好用库自带的存储器模块。
五、验证：
１、敏感表：
在always语句中，如果敏感表不含时钟，最好将所有的被读取的信号都放在敏感表中。
２、异步复位：
建议不要在异步时对变量读取，即异步复位时，对信号赎以常数值。
 
 
一、组合逻辑
1、敏感变量的描述完备性
Verilog中，用always块设计组合逻辑电路时，在赋值表达式右端参与赋值的所有信号都必须在always @(敏感电平列表)中列出,always中if语句的判断表达式必须在敏感电平列
表中列出。如果在赋值表达式右端引用了敏感电平列表中没有列出的信号，在综合时将会为没有列出的信号隐含地产生一个透明锁存器。这是因为该信号的变化不会立刻引起所赋值的变化，而必须等到敏感电平列表中的某一个信号变化时，它的作用才表现出来，即相当于存在一个透明锁存器，把该信号的变化暂存起来，待敏感电平列表中的某一个信号变化时再起作用，纯组合逻辑电路不可能作到这一点。综合器会发出警告。
Example1:
input a,b,c;
reg e,d;
always @(a or b or c)
begin
e="d"&a&b;
d="e|c";
end
Example2:
input a,b,c;
reg e,d;
always @(a or b or c or d)
begin
e="d"&a&b;
d="e" |c;
end
2、条件的描述完备性
如果if语句和case语句的条件描述不完备，也会造成不必要的锁存器。
Example3:
if (a==1'b1) q="1"'b1; //如果a==1'b0,q=? q将保持原值不变，生成锁存器
Example4:
if (a==1'b1)
q="1"'b1;
else
q="1"'b0; //q有明确的值。不会生成锁存器
 
二、Verilog中端口的描述
1、端口的位宽最好定义在I/O说明中,不要放在数据类型定义中；
Example1:
module test(addr,read,write,datain,dataout)
input[7:0] datain;
input[15:0] addr;
input read,write;
output[7:0] dataout; //要这样定义端口的位宽！
wire addr,read,write,datain;
reg dataout;
Exa mple2:
module test(addr,read,write,datain,dataout)
input datain,addr,read,write;
output dataout;
wire[15:0] addr;
wire[7:0] datain;
wire read,write;
reg[7:0] dataout; // 不要这样定义端口的位宽！！
2、端口的I/O与数据类型的关系：
端口的I/O 端 口 的 数 据 类 型
module内部 module外部
input wire wire或reg
output wire或reg wire
inout wire wire
3、assign语句的左端变量必须是wire；直接用"="给变量赋值时左端变量必须是reg！
Example3:
assign a="b"; //a必须被定义为wire！！
********
begin
a="b"; //a必须被定义为reg！
end
4、VHDL 中 STD_LOGIC_VECTOR 和 INTEGER 的区别
例如 A 是INTEGER型，范围从0到255；B是STD_LOGIC_VECTOR，定义为8位。A累加到55时，再加1就一直保持255不变，不会自动反转到0，除非令其为0；而B累加到255时，再加1就会自动反转到0。所以在使用时要特别注意！
 
三、以触发器为例说明描述的规范性
 
1、无置位/清零的时序逻辑
always @( posedge CLK)
begin
Q<=D;
end
2、有异步置位/清零的时序逻辑
异步置位/清零是与时钟无关的，当异步置位/清零信号到来时，触发器的输出立即 被置为1或0，不需要等到时钟沿到来才置位/清零。所以，必须要把置位/清零信号列入always块的事件控制表达式。
always @( posedge CLK or negedge RESET)
begin
if (!RESET)
Q="0";
else
Q<=D;
end
3、有同步置位/清零的时序逻辑
同步置位/清零是指只有在时钟的有效跳变时刻置位/清零，才能使触发器的输出分 别转换为1或0。所以，不要把置位/清零信号列入always块的事件控制表达式。但是必须在always块中首先检查置位/清零信号的电平。
always @( posedge CLK )
begin
if (!RESET)
Q="0";
else
Q<=D;
end
 
四、结构规范性
在整个芯片设计项目中，行为设计和结构设计的编码是最重要的一个步骤。它对逻辑综合和布线结果、时序测定、校验能力、测试能力甚至产品支持都有重要的影响。考虑到仿真器和真实的逻辑电路之间的差异，为了有效的进行仿真测试：
1、避免使用内部生成的时钟
内部生成的时钟称为门生时钟（gated clock）。如果外部输入时钟和门生时钟同时驱动，则不可避免的两者的步调不一致，造成逻辑混乱。而且，门生时钟将会增加测试的
难度和时间。
2、绝对避免使用内部生成的异步置位/清零信号
内部生成的置位/清零信号会引起测试问题。使某些输出信号被置位或清零，无法正常测试。
3、避免使用锁存器
锁存器可能引起测试问题。对于测试向量自动生成（ATPG），为了使扫描进行，锁存器需要置为透明模式（transparent mode），反过来，测试锁存器需要构造特定的向量，这可非同一般。
4、时序过程要有明确的复位值
使触发器带有复位端，在制造测试、ATPG以及模拟初始化时，可以对整个电路进行快速复位。
5、避免模块内的三态/双向
内部三态信号在制造测试和逻辑综合过程中难于处理.