来看看'小强'LPC80x系列的Flash！能够承受500K次擦写MCU？

简记 LPC802 和 LPC804 Flash寿命的测试

首先声明，测试过的LPC802或者LPC804的片子基本就废了，所以你得多准备点儿样片才行。
再次声明，测试环境是室温，所以测试结果比数据手册上的好很多也正常，正常使用时，咱们工程师还得以数据手册信息为主
昨日公司的FAE同事找@牛要LPC802/LPC804 Flash的擦写寿命的测试软件，@牛犯了嘀咕，多少年没碰上这种要求，LPC80x的Flash究竟有何魔力使得客户提出如此要求？一般MCU的Flash不就10W次或者1W次左右么？ @牛迅速打开了LPC804的数据手册, 搜索"endurance"。我 哔! 居然500K次，比一般的MCU的存储器整整高了5倍。

LPC804_FlashEndurance.png

定睛一看数据手册里括号里的字，原来LPC804和LPC802是EEPROM工艺的Flash存储器。

作为一个板农+码农，掏出OM40001 LPCXpresso804，导好MCUXpresso SDK的测试例程，那就开始垒码调试吧。

OM40001Board.png

看下室温，测试条件有限，只能室温环境了

OM40001_TestCondition.png

花了几个小时，垒好测试代码，下载见链接。

先设定个1000K(1M)次，瞅瞅看。
KEIL下边Download到板子上，打开个串口助手，等啊等，等啊等。终于等到了“Successfull”的信息。

lpc804_erase_3.png

好吧，1000K次已经远远大于手册的500K次了，当然我们测试的室温，手册上的数据是结温低于85℃下的。

另外我们再看看擦写时间，均在1.5mS内，也是符合数据手册2.5mS内的。

这时，搞事情的想法又来了，反正还有样片，咱们暴利测试下看看多少次后Flash才会寿终正寝，于是，就把循环测试for循环改成0xFFFFFFFF次，换了个Flash Page继续测试了。当看到失效结果提示的时候，显示测计数值为1140475次.....

lpc804_erase_failed.png

测试情况来看，LPC802和LPC804的Flash寿命以及擦写时间都是符合数据手册的。如果对此有要求的工程师可以用我的代码做测试：
通过更改代码里的TESTBUF_SIZE，可以测试写入不同长度数据的时间。
更改TEST_ADDR的值，可以选择不同的Flash区块。
而更改TEST_COUNT的值，则是调整需要测试的擦写次数。

LPC804TestSW.png

本次分享就到这里啦，看起来LPC802/804也挺适合各种传感器小模块的，随时标定自己的参数，不用太担心Flash的寿命。