DDR出身自SDRAM,严格的说应该叫DDR SDRAM,DDR SDRAM是Double Data Rate SDRAM的缩写,是双倍速率同步动态随机存储器的意思,所以,有很大一部分,两者是一样的,理解SDRAM,然后再来理解DDR。在SDRAM上的改进,效果应该更好一些,这里要感谢Chinaunix.net的大神--Tekkaman Ninja,我的内存的学习资料都是Tekkaman Ninja的博客中介绍的。以下是我对大神推荐文档的一些个人整理,OK,先上一张SDRAM的结构图,如下图8-1所示。
图8-1、SDRAM 内部结构图
下面上一张简易的SDRAM工作流程图。
图8-2、SDRAM 简易工作流程图
图中用红色标明的就是我们需要找的几个主要时间,现在开始看图说话。
SDRAM 芯片内部有一个逻辑控制单元,并且有一个模式寄存器为其提供控制参数。因此,每次开机时 SDRAM 都要先对这个控制逻辑核心进行初始化。
初始化完成后,要想对一个 L-Bank 中的阵列进行寻址,首先就要确定行(Row),使之处于活动状态(Active),然后再确定列。简单点理解就先传行地址过来。
行地址确定之后,就要对列地址进行寻址了。读写的信号和列地址是同时发过来的,读写的操作取决于WE#引脚,当他使能则为写,否则为读。
在发送列读写命令时必须要与行有效命令有一个间隔,这个间隔被定义为 tRCD,即RAS to CAS Delay(RAS 至 CAS 延迟),大家也可以理解为行选通周期,简单点理解就是说,在发完行地址后,再发列地址和读写信号时,需要延迟一下,这应该是根据芯片存储阵列电子元件响应时间(从一种状态到另一种状态变化的过程)所制定的延迟。
广义的 tRCD 以时钟周期(tCK,Clock Time)数为单位,比如 tRCD=2,就代表延迟周期为两个时钟周期,具体到确切的时间,则要根据时钟频率而定,对于PC100 SDRAM,tRCD=2,代表1000/100 * 2 = 20ns 的延迟,下图是tRCD=3的时序图。
图8-3、SDRAM 时序图 tRCD说明
在选定列地址后,就已经确定了具体的存储单元,剩下的事情就是数据通过数据 I/O 通道(DQ)输出到内存总线上了。
但是在CAS发出之后,仍要经过一定的时间才能有数据输出,从CAS与读取命令发出到第一笔数据输出的这段时间,被定义为 CL(CAS Latency,CAS潜伏期)。由于CL只在读取时出现,所以 CL 又被称为读取潜伏期(RL,Read Latency),下图是CL=2的示意图。
图8-4、SDRAM 时序图 CL说明
数据写入的操作也是在 tRCD 之后进行,但此时没有了 CL(记住,CL 只出现在读取操作中),行寻址与列寻址的时序图和上文一样,只是在列寻址时,WE#为有效状态。 为了保证数据的可靠写入,都会留出足够的写入/校正时间(tWR,Write Recovery Time),这个操作也被称作写回(Write Back)。tWR 至少占用一个时钟周期或再多一点(时钟频率越高,tWR 占用周期越多)
突发(Burst)是指在同一行中相邻的存储单元连续进行数据传输的方式,连续传输所涉及到存储单元(列)的数量就是突发长度(Burst Lengths,简称 BL)。 只要指定起始列地址与突发长度,内存就会依次地自动对后面相应数量的存储单元进行读/写操作而不再需要控制器连续地提供列地址。这样,除了第一笔数据的传输需要若干个周期(主要是之前的延迟,一般的是 tRCD+CL)外,其后每个数据只需一个周期的即可获得。
由于 SDRAM 的寻址具体独占性,所以在进行完读写操作后,如果要对同一个Bank的另一行进行寻址,就要将原来有效(工作)的行关闭,重新发送行/列地址。Bank 关闭现有工作行,准备打开新行的操作就是预充电(Precharge)。 在发出预充电命令之后,要经过一段时间才能允许发送 RAS 行有效命令打开新的工作行,这个间隔被称为tRP(Precharge command Period,预充电有效周期)。和 tRCD、CL 一样,tRP 的单位也是时钟周期数,具体值视时钟频率而定。
之所以称为 DRAM,就是因为它要不断进行刷新(Refresh)才能保留住数据,因此它是 DRAM 最重要的操作。刷新操作与预充电中重写的操作一样,都是用 S-AMP 先读再写。 但为什么有预充电操作还要进行刷新呢?因为预充电是对一个或所有L-Bank 中的工作行操作,并且是不定期的,而刷新则是有固定的周期,依次对所有行进行操作,以保留那些久久没经历重写的存储体中的数据。但与所有 L-Bank 预充电不同的是,这里的行是指所有 L-Bank 中地址相同的行,而预充电中各 L-Bank 中的工作行地址并不是一定是相同的。比如我有四片,刷新是我依次刷新四片内存中的某个地址,然后再刷下一个;而预充电的工作行地址可以不同。
那么要隔多长时间重复一次刷新呢?目前公认的标准是,存储体中电容的数据有效保存期上限是64ms(毫秒,1/1000 秒),也就是说每一行刷新的循环周期是 64ms。这样刷新速度就是:行数量/64ms。我们在看内存规格时,经常会看到 4096 RefreshCycles/64ms 或 8192RefreshCycles/64ms 的标识,这里的 4096 与 8192 就代表这个芯片中每个 L-Bank 的行数。刷新命令一次对一行有效,发送间隔也是随总行数而变化,4096 行时为 15.625μs(微秒,1/1000 毫秒),8192 行时就为 7.8125μs。
刷新操作分为两种:自动刷新(Auto Refresh,简称 AR)与自刷新(Self Refresh,简称 SR)。
SR 则主要用于休眠模式低功耗状态下的数据保存,这方面最著名的应用就是 STR(Suspend to RAM,休眠挂起于内存)。在发出 AR 命令时,将 CKE 置于无效状态,就进入了 SR 模式,此时不再依靠系统时钟工作,而是根据内部的时钟进行刷新操作。在 SR 期间除了 CKE 之外的所有外部信号都是无效的(无需外部提供刷新指令),只有重新使 CKE 有效才能退出自刷新模式并进入正常操作状态。
以上就是SDRAM是主要工作步骤,对比一下最上面的简易工作流程图,时间是不是就很清楚了呢?
表8-1、DDR3时序时间参考表
CL=9ns:CAS Latency,CAS 潜伏期,CAS与读取命令发出到第一笔数据输出的时间 ----读操作
tRCD=13.5ns:RAS to CAS Delay(RAS 至 CAS 延迟),行地址发完后,再发列地址的延迟时间 ----行列地址延迟
tRP=13.5ns 关闭现有工作行,准备打开新行,经过一段时间才能允许发送 RAS 行有效命令打开新的工作行的时间 ----预充电时间
OK,至此三个时间全部清清楚楚了。