【Western Digital】固件区学习之缺陷表（30、31、32、33、34、35、36模块）

今天来探讨一下关于硬盘固件区缺陷表和译码表的相关模块。

关于缺陷表的解释：

P-list（永久缺陷表，P表)：  
硬盘厂商在出厂时在自动校准的过程中找出的缺陷磁道和缺陷扇区，记录在P-list中。

G-list（增长缺陷表，G表）： 
硬盘厂商设计的一个自动修复机制，在硬盘使用过程中，如果发现一个缺陷扇区，则自动分配一个备用的扇区替换该扇区。并将该扇区记录在G-list中。

35模块  (固件区缺陷表):
固件区缺陷列表，用来记录硬盘固件区产生的缺陷。

T-list（磁道缺陷表，道表）：
也就是压缩后的P表，因为固件的存储空间有限，当向其中加入的缺陷信息数据量太大，达到一定程度时，
将无法继续写入，这时就可将P表进行压缩，将缺陷过多的磁道记录为Track，增加P表容量，继续写入缺陷信息。

译码表：用来管理缺陷表和段位表之间的关系，译码表出问题会导致硬盘逻辑地址出错，硬盘数据不能正常读取。

上面缺陷表对应的硬盘固件区模块分别是 33、34、35、36号模块。

与之相关的译码表为30(固件区译码表) 一般存放在硬盘ROM中，31(P-list译码表)，32号(G-list译码表)模块。

下面我拿一块320G的笔记本硬盘来分析一下这些模块

P表 ：




对应的33号模块：

G表和固件区缺陷表同理。

T表：

对应的36号模块：