做项目时有时候需要对一些数据进行掉电可存储,一般来说可以把这些数据存储到到EEPROM或FLASH,这次项目中我使用到的芯片是STM32F051C8T6,只有64KB的FLASH,没有EEPROM。这个时候就需要考虑FLASH的读写操作。
什么是STM32CubeMX?
STM32CubeMX是以HAL库为基础,进行上层的硬件和软件框架设计的图形化软件配置工具,使用图形化向导生成C初始化代码,可以根据设计生成硬件管脚定义及软件BSP工程包,支持IAR-ARM、MDK-ARM、Ac6等IDE开发环境。
下载地址点击这里。
这次项目使用的是STM32F051+STM32CubeMX+keil 5开发。
首先简要写一下FLASH的读写流程
这是我使用STM32CubeMX的HAL FLASH库的流程,其他STM32库可能有所差异,但是肯定有解锁、擦除、写入、上锁这几个步骤的。
下面放上代码清单和测试流程
uint32_t writeFlashData = 0x55555555;
uint32_t addr = 0x08007000;
//FLASH写入数据测试
void writeFlashTest(void)
{
//1、解锁FLASH
HAL_FLASH_Unlock();
//2、擦除FLASH
//初始化FLASH_EraseInitTypeDef
FLASH_EraseInitTypeDef f;
f.TypeErase = FLASH_TYPEERASE_PAGES;
f.PageAddress = addr;
f.NbPages = 1;
//设置PageError
uint32_t PageError = 0;
//调用擦除函数
HAL_FLASHEx_Erase(&f, &PageError);
//3、对FLASH烧写
HAL_FLASH_Program(TYPEPROGRAM_WORD, addr, writeFlashData);
//4、锁住FLASH
HAL_FLASH_Lock();
}
//FLASH读取数据测试
void printFlashTest(void)
{
uint32_t temp = *(__IO uint32_t*)(addr);
printf("addr:0x%x, data:0x%x\r\n", addr, temp);
}
之后在主函数里添加下面测试流程:
void main(void)
{
//flash TEST
writeFlashData = 0x55555555;
writeFlashTest();
printFlashTest();
writeFlashData = 0xaaaaaaaa;
writeFlashTest();
printFlashTest();
while(1);
}
设置好串口,打印
addr:0x8007000, data:0x55555555
addr:0x8007000, data:0xaaaaaaaa
成功!
其中比较特殊的是擦除步骤,需要定义个FLASH_EraseInitTypeDef
的数据,FLASH_EraseInitTypeDef有三个成员:TypeErase
、PageAddress
和NbPages
。
其中,TypeErase有两个选项,页擦除和块擦除:
#define FLASH_TYPEERASE_PAGES ((uint32_t)0x00) /*!
PageAddress是设置FLASH地址,这里为0x8007000;
NbPages为擦除页数(块数),这里为1;
另外还需要定义一个uint32_t变量——PageError
,如果出现错误这个变量会被设置为出错的FLASH地址。
0x8007000是STM32的一个内存映射地址,其指向FLASH memory,如图:
这个地址也要考虑芯片的FLASH大小,比如我这次用的芯片FLASH大小是64KB,0x0801 0000-0x0800 0000=0x10000,正好等于64KB。
在《STM32F05x参考手册》中,我选的0x8007000是这么一个位置,是FLASH地址的最后一块扇区的起始位置。
如果使用上面的示例代码读写FLASH不成功,也请考虑一下FLASH的大小和地址设置。