分析光源附加噪声的理论值与实验值的计算方法,分析附加噪声与系统哪些方面相关。
SLD:超辐射发光二极管
光谱宽度经验公式
Δ λ ≈ λ 2 h c q k b T \Delta \lambda \approx \frac{\lambda ^2}{h c}qk_bT Δλ≈hcλ2qkbT
其中
q q q——与掺杂浓度、跃迁机构、吸收有关的因子,典型值为1.8
λ \lambda λ——峰值工作波长
P S D R I N − S L D ≈ 1 Δ f PSD_{RIN-SLD}\approx\frac{1}{\Delta f} PSDRIN−SLD≈Δf1
单位 H z − 1 \mathrm{Hz^{-1}} Hz−1
Δ f = c Δ λ λ 2 \Delta f=c\frac{\Delta \lambda}{\lambda ^2} Δf=cλ2Δλ
频谱不对称,定义等效的RIN, Δ λ \Delta\lambda Δλ通过一样的式子计算
一般比SLD大,由于掺铒光纤光源的功率更大,因此实际的强度噪声大的多
光纤陀螺仪,中文书
散粒噪声:不相关的粒子流
σ N ˙ 2 = 2 N ˙ Δ f b w \sigma_{\dot{N}}^2=2\dot{N}\Delta f_{bw} σN˙2=2N˙Δfbw
附加噪声:源于宽带光源谱宽范围内各个傅里叶分量之间的拍效应,在光电探测器的输出光电流中形成一种附加噪声。
σ N ˙ e x c 2 = N ˙ 2 Δ f b w Δ f \sigma_{\dot{N}_{exc}}^2=\frac{\dot{N}^2\Delta f_{bw}}{\Delta_f} σN˙exc2=ΔfN˙2Δfbw
Δ f b w \Delta f_{bw} Δfbw——计数带宽(检测频带),计数时间的倒数
Δ f \Delta f Δf——频宽
将粒子数的附加噪声转换为功率的附加噪声则有
( σ P h υ ) 2 = P 2 Δ f b w ( h υ ) 2 Δ f (\frac{\sigma_{P}}{h\upsilon})^2=\frac{P^2\Delta f_{bw}}{(h\upsilon)^2\Delta_f} (hυσP)2=(hυ)2ΔfP2Δfbw
即:
σ P 2 = P 2 Δ f Δ f b w \sigma_{P}^2=\frac{P^2}{\Delta_f}\Delta f_{bw} σP2=ΔfP2Δfbw
在上述理论计算式中, Δ f \Delta_f Δf可以通过激光光谱得到,P可以由光电探测测器探测平均功率得到, Δ f b w \Delta f_{bw} Δfbw与探测的时间相关。通过以上数据计算出激光的附加噪声。
光纤陀螺仪,英文书
散粒噪声(shot noise)
经典的散粒噪声是不相关的离散粒子流,特别是离散的电子组成的电流。而激光器基础的噪声是散粒噪声是光子流。若每秒钟粒子流为 N ˙ \dot{N} N˙,测量时间是 t m t_m tm,则探测到的粒子数为
N = N ˙ t m N=\dot{N}t_m N=N˙tm
不确定性为 N \sqrt{N} N
例如激光功率为13 μ \mu μW,波长1500nm,则光子流为 1 0 14 10^{14} 1014 个每秒。若测量时间是1s(探测频率的带宽是 Δ f d = 1 H z \Delta f_d=1Hz Δfd=1Hz),光子不确定性就是 1 0 7 10^{7} 107 个,相对不确定性就是 1 0 − 7 10^{-7} 10−7 。
其分布满足正态分布,标准差为:
σ N ˙ = 2 N ˙ Δ f d \sigma_{\dot{N}}=\sqrt{2\dot{N}\Delta f_d} σN˙=2N˙Δfd
对于电流,由离散的电荷q组成,标准差为;
σ I = 2 q I Δ f d \sigma_{I}=\sqrt{2qI\Delta f_d} σI=2qIΔfd
对于能量P的光,由离散的光子组成,标准差为:
σ P h = 2 h υ P Δ f d \sigma_{Ph}=\sqrt{2h\upsilon P\Delta f_d} σPh=2hυPΔfd
相对噪声功率谱密度(ralative noise power spectral density, PSD):
P S D N ˙ = σ N ˙ 2 / N ˙ 2 ⋅ Δ f d = 2 / N ˙ P S D I = σ I 2 / I 2 ⋅ Δ f d = 2 q / I P S D P h = σ P h 2 / P 2 ⋅ Δ f d = 2 h υ / P \begin{aligned} &PSD_{\dot{N}}=\sigma_{\dot{N}}^2/\dot{N}^2\cdot\Delta f_d=2/\dot{N}\\ &PSD_{I}=\sigma_{I}^2/I^2\cdot\Delta f_d=2q/I\\ &PSD_{Ph}=\sigma_{Ph}^2/P^2\cdot\Delta f_d=2h\upsilon /P \end{aligned} PSDN˙=σN˙2/N˙2⋅Δfd=2/N˙PSDI=σI2/I2⋅Δfd=2q/IPSDPh=σPh2/P2⋅Δfd=2hυ/P
附加噪声(excess RIN)
激光器中原子或者离子自发向外辐射不相干的宽带光子,自发辐射光子有随机的相位和随机的频率成分,其产生的随机能量叫做附加相对强度噪声(RIN)。假设光谱半高全宽(FWHM)为 Δ f F W H M = Δ λ / λ ˉ 2 \Delta f_{FWHM}=\Delta \lambda/\bar{\lambda}^2 ΔfFWHM=Δλ/λˉ2
P S D R I N = 1 / Δ f PSD_{RIN}=1/\Delta f PSDRIN=1/Δf
相对应的标准差为
σ = P S D R I N \sigma=\sqrt{PSD_{RIN}} σ=PSDRIN
自发辐射的光对于扩展光源是不相关的,很难较好耦合到单模光纤中去。
Morkel, P.R, Laming, R.I, Payne, D.N. Noise characteristics of high-power doped-fibre superluminescent sources[J]. Electronics Letters, 26(2):96.
偏振度为d的宽带光源,当测量时间远大于相干时间时总噪声方差为
σ i 2 = 2 e i ˉ B e + ( 1 + d 2 ) i ˉ 2 B e / Δ υ \sigma^2_i=2e\bar iB_e+(1+d^2)\bar i^2B_e/\Delta \upsilon σi2=2eiˉBe+(1+d2)iˉ2Be/Δυ
d d d为偏振度, d = 1 d=1 d=1时表示偏振光, d = 0 d=0 d=0时表示自然光; i i i为探测器探测到的电流; B e B_e Be为探测器测量带宽,为测量时间二倍的倒数,即 B = 1 2 T B=\frac {1}{2T} B=2T1; Δ υ \Delta \upsilon Δυ为宽带光源的频谱宽度,定义如下
Δ υ = [ ∫ P ( υ ) d υ ] 2 ∫ P 2 ( υ ) d υ \Delta \upsilon=\frac {[\int P(\upsilon )d \upsilon]^2}{\int P^2(\upsilon )d \upsilon} Δυ=∫P2(υ)dυ[∫P(υ)dυ]2
P ( υ ) P(\upsilon ) P(υ)代表光谱。其倒数 τ c = 1 / Δ υ \tau_c=1/\Delta \upsilon τc=1/Δυ表示宽带光源的相干长度
在上述公式中
若测量附加噪声,且光源为非偏振光,则有
σ i 2 = i ˉ 2 2 T Δ υ \sigma^2_i=\frac{\bar i^2}{2T\Delta \upsilon} σi2=2TΔυiˉ2
系统信噪比(假设为自然光)
S N R = i ˉ 2 σ i 2 = i ˉ 2 e B e + i ˉ B e / Δ υ SNR=\frac{\bar i^2}{\sigma^2_i}=\frac{\bar i}{2eB_e+\bar iB_e/\Delta \upsilon} SNR=σi2iˉ2=2eBe+iˉBe/Δυiˉ
探测电流的大小决定了系统两种误差相差的量级
当 i ˉ ≪ 2 e Δ υ \bar i \ll 2e\Delta \upsilon iˉ≪2eΔυ,散粒噪声占主导
当 i ˉ ≫ 2 e Δ υ \bar i \gg 2e\Delta \upsilon iˉ≫2eΔυ,附加噪声占主导
原理:通过调节光的强度,逐步探测由弱光到强光时的信号,分析信号方差/标准差的波动。
光纤陀螺中:
超辐射发光二极管,陀螺检测精度受到散粒噪声限制
掺饵光纤光源,陀螺检测精度受到相对强度噪声限制(光功率大)
相对强度波动自相关函数的傅里叶变换,在给定的频率下,RIN表示1Hz带宽下的强度噪声功率和平均光功率对比值.
或
单位带宽内光强度噪声均方根与光功率平方的比值
田中成.相对强度噪声对微波光子链路性能影响规律研究
直流激光器在t时刻输出的激光功率:
P ( t ) = P ˉ + δ P ( t ) P(t)=\bar{P}+\delta P(t) P(t)=Pˉ+δP(t)
P ˉ \bar{P} Pˉ为激光器输出的平均光功率, δ P ( t ) \delta P(t) δP(t)为光功率的波动值
R I N ( t ) = [ δ P ( t ) ] 2 P ˉ 2 = 2 [ δ P ( t ) ] 2 P ˉ H z 2 B RIN(t)=\frac{[\delta P(t)]^2}{\bar{P}^2}=\frac{2[\delta P(t)]^2}{\bar{P}^2_{Hz}B} RIN(t)=Pˉ2[δP(t)]2=PˉHz2B2[δP(t)]2
P ˉ H z 2 \bar{P}^2_{Hz} PˉHz2单位带宽下的平均光功率, B B B噪声带宽因为RIN(t)的功率谱密度是单边带,因此带宽只考虑一半
方荣. 激光器相对强度噪声测量研究[D].北京邮电大学,2017.
R I N = 1 B Δ P ( ω ) 2 P 2 RIN=\frac{1}{B}\frac{\Delta P(\omega)^2}{P^2}\\ RIN=B1P2ΔP(ω)2
其中 B B B代表等效带宽, Δ P ( ω ) 2 \Delta P(\omega)^2 ΔP(ω)2代表制定频率下的均方光强度波动, P P P为输出光强度平均值,RIN的单位一般用 d B c / H z \rm{dBc/Hz} dBc/Hz表示
RIN的主要来源
激光器本身:
光电探测器用光电流的方差表示
σ R I N 2 = i 2 B Δ υ \sigma^2_{RIN}=\frac{i^2B}{\Delta \upsilon} σRIN2=Δυi2B
其中 Δ υ = 1 R I N \Delta \upsilon=\frac{1}{RIN} Δυ=RIN1, i i i为探测器电流, B B B为带宽,因此RIN对整个系统附加噪声功率表示为
N R I N = 1 2 1 0 R I N 10 i 2 B R L N_{RIN}=\frac{1}{2}10^{\frac{RIN}{10}}i^2BR_L NRIN=211010RINi2BRL
其中 R L R_L RL为负载阻抗。