蓝桥：芯片测试

蓝桥：芯片测试

题目

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

分析

**最正确的思路：**因为好芯片比坏芯片多，所以，每一个芯片与其它芯片n个比较时，只要测试的结果大于n/2 就能证明这是好芯片，然后把芯片所在位置输出来即可。
以每一列为单位，计算1的个数（求和即可），sum超过一半即为好的芯片。

**说明：**这个題其实关键的解题就一个，只要其他的芯片对一个芯片的判断结果是1的个数大于0的个数，就可以判断这个是一个好芯片。为什么呢？因为题目中说了，其中坏的芯片的判断是随即的要不是1要不是0，所以对一个好的芯片（被检测）的判断而言，用坏的去判断（检测方）这个好的，显示1和显示0的概率都是50%，而如果还有一个好的芯片（检测方）也去判断这个好的芯片（被检测），这个结果一定是1，所以这个显示1的总数一定会大于显示0的个数。

#代码分析

import java.util.Scanner;

public class 芯片测试 {

	public static void main(String[] args) {
		// TODO Auto-generated method stub
		Scanner sc=new Scanner(System.in);
		int n=sc.nextInt();
		int[][] arr=new int[n][n];
		for(int i=0;i<n;i++){
			for(int j=0;j<n;j++){
				arr[i][j]=sc.nextInt();
			}
		}
		sc.close();
		
		for(int i=0;i<n;i++){
			int sum1=0;
			int sum0=0;
			for(int j=0;j<n;j++){
				if(i==j)
					continue;
				else if(arr[j][i]==1)
						sum1++;
					else
						sum0++;
			}
			if(sum1>=sum0)
				System.out.print((i+1) +" ");
		}
	}

}