存储器测试的主要内容

主要分为存储器测试(mbist)和存储器修复(MBISR)两大部分。

存储器测试的主要工作为遍历存储器的所有存储单元进行检测存储单元的读写功能，记录存在错误的存储单元地址及错误类型，为存储修复及错误分析提供诊断数据。

存储器修复为根据故障地址及错误类型，判断使用冗余行，列，字进行修复。

不存在冗余行，列的存储器良率较低。