JTAG与SWD的含义与引脚

---

前言

最近使用M0搭建了一个最基础的SoC但是在使用keil进行软件调试的过程中遇到了不小的问题,这里对常见的两种调试方式做一个总结

---

一、JTAG

JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP(测试访问口),通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。除了TAP之外，混合IC还包含移位寄存器和状态机，该状态机被称为TAP控制器，以执行边界扫描功能。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
TAP包含了一个四线串行接口及三条可选的线。强制要求的四条线分别为TCK、TDI、TDO、TMS，可选的三条线分别为TRST、RTCK和SRST。各引脚的功能如下：

• TCK 测试时钟输入
• TDI 测试数据输入
• TDO 测试数据输出
• TMS 测试模式选择
• TRST 测试复位
• RTCK 测试时钟反馈，用来同步TCK信号的产生，不使用时直接接地；
• SRST 系统复位，与目标板上的系统复位信号相连，可以直接对目标系统复位。

二、SWD

SWD协议采用串行同步接口，该接口包含一个双向数据信号以及一个时钟信号。
总线接口：对于调试主机何被调试设备，共用一个双向数据引脚。SWD接口是同步的，需要一个时钟引脚SWCLK。
当设备需要对SWDIO进行采样时，应在SWCLK的上升沿执行采样.当设备对SWDIO进行驱动或者停止驱动时，信号在SWCLK的上升沿发生变化

总结

在相同的调试器上既可以使用这两种调试方法对目标板进行调试，两者之间的联系先挖个坑，后面了解深入了再继续补充。