Keil调试显示波形方法

在实际工程调试中,很多时候需要显示一些数据的曲线来辅助调试,观察变量的变化状态;有些MCU不带DAC功能,需要用定时器模拟,使用时也不方便。在经过一系列的尝试后Keil Array Visualization V1.x可以很方便的帮忙解决这个问题,下面记录一下使用说明。

第一步:下载工具 Keil Array Visualization,这里上传一个方便下载

KArrayV143_2021.rar_无法找到v143生成工具-嵌入式文档类资源-CSDN下载

第二步:配置Keil调试选项

Keil调试显示波形方法_第1张图片

第三步:把需要显示波形的数据存到数组里

在这里我们创建了一个包含2000个数据的数组Current_Ia,用来读取A相电流,另外一个读取角度,执行一次FOC读取一次

Keil调试显示波形方法_第2张图片

Keil调试显示波形方法_第3张图片

第四步:用Keil Array Visualization把两个数据数据打印出来

1.开始调试,进入Debug模式

Keil调试显示波形方法_第4张图片

2.配置Keil Array Visualization

配置好后,直接点连接,然后读取,可设置自动读取

Keil调试显示波形方法_第5张图片

3.显示效果

只需要改变量名,就可以显示该波形

Keil调试显示波形方法_第6张图片Keil调试显示波形方法_第7张图片

PS:以前用过IDE支持把数组以波形的形势显示出来,不知道为什么Keil不支持这个功能,一直觉得这个功能非常方便,有时候想看一些高频数据变化情况,用这个功能很好用

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