深圳立仪发布纳米级高分辨率光谱共焦位移传感器,精度再破纪录

随着智造时代的突飞猛进,各行各业都向高精确度的方向快速发展,光学与机器视觉技术已经在消费电子、汽车制造、光伏半导体等多个行业应用。机器视觉技术是图像获取、分析、识别、检测等技术的综合。在一些不适宜人工作业的工作环境或人工视觉难以满足高精度、高质量要求的场合,常用机器视觉来代替人工视觉。传统2D机器视觉仅能检测平面尺寸,深圳立仪科技生产的光谱共焦位移传感器,使用将白光色散的光学方法,可以检测深度信息,从而解决3D测量难题。

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深圳立仪发布纳米级高分辨率光谱共焦位移传感器,精度再破纪录

立仪科技作为专业光学检测解决方案研发制造商,新款光谱共焦测头于深圳盛大发布,开辟了光学检测新视界,聚焦了大量的目光。历经多年的探索和打磨,立仪科技新款光谱共焦测头已然能够解决行业测量的相关难题,这一创新成果再次打破了行业记录,相信将会在落地应用中以令人惊叹的表现执行各种工业自动化和检测任务。

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深圳立仪发布纳米级高分辨率光谱共焦位移传感器,精度再破纪录

  新品位移传感器镜头D27A29的特性:

1、本型号传感器首次突破位移传感器性能瓶颈,50um的量程,分辨率1nm,静态重复精度高达5nm,可满足半导体、航空、航天等高精度要求领域,同时也有助于提升高精度加工机床的反馈精度,并且解决了超薄透明薄膜检测速度慢的难题。

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静态重复性展示高度平稳

2、探头高光强的特性,数据采样频率最高可达4000Hz,能够满足大部分产品的全检及实时定位引导需求。

3、探头尺寸较小(最大直径为27mm),形状规整,安装方便,同时配备高性能的金属铠甲光纤,即插即用的高速USB3.0数据端口,控制器使用大面积金属散热材料,确保控制器内部温度稳定性,让用户方便、安心的使用本产品。

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深圳立仪发布纳米级高分辨率光谱共焦位移传感器,精度再破纪录

  立仪以打造高规格的光谱共焦位移传感器并减少成本普及推广为志向,汇集在光谱共焦领域光学、机械、软件人才和合作伙伴昼夜奋战,数年磨一剑,开发出自主知识产权的精密光谱共聚焦位移传感器商业化产品系列,掌握核心技术,破除封锁弥补空白,并在原有基础上有大幅改进并申请了多项发明专利。

  最后,光学与机器视觉作为新兴技术被寄予厚望,被认为是自动化与测量仪器行业一个具备光明前景的细分市场。机器视觉由于技术本身存在的优越性在许多领域有很好的发展前景。立仪科技还研发出的核心产品丰富多样,能按客户实际应用需求,灵活修改和调整设计。

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