测试 LTE 波束成形

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LTE 正成为主要的无线技术。在此标准的几个新功能中，多输入多输出 (MIMO) 技术具有多种优势。

它可改善吞吐量，扩展覆盖范围，减少干扰，并且通过波束成形提高信干噪比 (SINR)。LTE 支持多种模式以优化传输设置。

LTE MIMO 基站由一个基带单元、一个远程射频单元 (RRH) 和一个最多包括 8 个天线的天线阵列组成。RRH 将基带单元的数字信号上变频为每个天线的模拟信号。

在所描述的场景中，基站软件控制各个天线信号的加权，以将主波束波瓣平移到 UE。这些信号看起来错综复杂。信道之间的加权关系由于极化而与复矢量相乘。对于软件测试或系统调试，需要检查信号并验证加权，这可能根据标准而预先定义，或者为了适应 UE 的位置。

对于测试与测量解决方案任务，R&S®RTO2044 和 R&S®RTO1044 是用于分析天线通道之间的幅度和相移的强大分析工具。由于高采集率和高性能 FFT，可以快速检测信号变化，并且不需要下变频。R&S®RTO 的带宽涵盖了定义的频段。
当信号不连续时，波束成形通常用于 LTE 时分双工模式 (TDD)。对于这些信号，R&S®RTO 示波器具有宽度和窗口的触发类型，这支持捕获下游脉冲以防止记录暂停时间段波形。这显著简化了频谱分析。另一个好处是 R&S®RTO 的多信道功能。如果需要对四个以上的信道进行并行分析，则可以扩展多个示波器进行测试。