热处理渗碳-碳势控制检测仪表的组合运用

在热处理渗碳中，工件表层想要获得所要求的碳含量、合适的渗层深度，必然就涉及到气体渗碳工艺及质量控制，因此，很多企业会采用CQI-9或热处理AMS标准来管理和指导日常的生产。负责工艺的工程师对CQI-9里提到的氧探头、碳控仪、箔片、三气体分析仪等仪表不会感到陌生。它们是对工件表面进行碳势控制的重要工具。如此说来，只有了解它们才能助力生产。

氧探头

氧探头控制炉内碳势是经过长期的生产实践检验，绝大多数情况下都是可靠且有效的方法。比如，武汉华敏氧探头直接插入被测气氛，不受外界因素干扰，可以测量到10-23ppm的氧含量，反应速度<1秒。

碳控仪

通过深入炉膛内氧传感器，检测炉内气氛氧浓度和探头部分温度。将传送过来的氧电势信号和温度电势信号，经过化学平衡原理计算炉内碳势实测值，并与用户设定值相比较，经智能PID控制模块输出，控制执行机构(电磁阀)的开闭，控制富化剂的流量来达到碳势控制的目的。

箔片

为了确保氧探头碳势的准确度，会使用箔片来进行定碳，以此跟踪碳势的变化。

便携式炉气校验仪

是用于辅助验证碳势，判断热处理炉的工况。当出现气氛异常波动时，迅速排查原因，减少质量事故。

氧探头获取的碳势数值与温度(T)、氧电势 （Emv）和一氧化碳(CO)有关，即：C%=f(T,Emv,CO)的函数关系，在生产条件下，当温度和CO含量保持不变时，碳势与氧电势成正相关，即氧电势越高，炉内碳势也越高，这时碳控仪表显示的碳势能比较真实反映炉内实际碳势。如若，温控仪表显示温度有偏差或炉内CO含量不稳定时，碳控仪表显示碳势值是没有变化的，但并不代表此时，炉内实际碳势数值没有发生变化。

比如：1、温控仪表显示温度是930℃，实际炉温也是930℃，碳控仪上显示的碳势是1.10%。2、温控仪表显示温度是930℃，但实际炉温是950℃，碳控仪的碳势依然显示的是1.10%。这两种情况，虽碳控仪表显示碳势均是1.10%，显然第二种情况，炉内实际碳势比1.10%要低。

因此，使用武汉华敏的炉气校验仪进行三种气体进行测量，就会得出两组不同的真实数据。如此方法，在常见的氮甲醇气氛情况下也同样适用，因载气配比的失衡导致CO浓度的变化会产生虚假碳势，同样可以借助武汉华敏的炉气校验仪进行三种气体测量，进行辅助判断。