如何用ATECLOUD芯片测试系统测试电源芯片的振荡频率？

　　芯片振荡频率常用于数字电路和模拟电路中，它是影响芯片运行速度的重要因素，其大小与内部电容器、电感、晶体等元件的特性有关。一款芯片生产出来后，它的振荡频率大小总是会在固定的范围之内。因此，芯片的振荡测试不仅需要抓取频率的波形，还需要记录波形的频率数值与标准数值进行阈值判断。

　　天宇微纳ATECLOUD芯片测试系统如何测试电源芯片的振荡频率?

　　在系统测试电源芯片的振荡频率前，我们需要准备一台多通道电源、一台电子负载、一台示波器以及边缘计算设备(纳米BOX)，纳米BOX是执行软件运行与计算的重要设备。

　　1. 将电源连接到电源芯片的VIN和EN端，电子负载连接到芯片VOUT端，示波器接连接到电源芯片的SW端。

　　2. 将电源、示波器、电子负载通过USB/LAN/RS232接口与纳米BOX相连，再通过网线与计算机连接，使得仪器、BOX和计算机处于同一网段下。

　　3. 打开浏览器，登陆ATECLOUD-IC系统，在系统内部搭建振荡频率的测试项目，将搭建好的项目组建成电源芯片振荡频率测试方案，之后直接启动测试即可。

　　4. 等待2-3秒即可完成测试，在系统指标展示界面可直接查看到测试中的振荡频率波形和参数。

　　5. 测试中的指标数据和历史数据都可以在数据报告界面查看，同时可以直接一键导出数据和波形图，自动生成word或excel文档。

　　6. 特有的数据洞察模块可以将所有测试数据集中分析处理，系统会从产品合格率，人员功效率，产品指标图等多个维度对采集到的数据进行分析，也可以将这些分析结果集中在大数据看板上展示，为管理者的决策提供真实有效的数据支撑。

　　天宇微纳ATECLOUD-IC芯片测试系统的特点

　　1. 相对手动测试项目需要2-3分钟来说，系统测试仅需2-3秒就可以得到测试结果，可以有效提升研发测试效率。

　　2. 针对某些需要采样率高的测试项目，手动测试只能目测估值，而系统测试则可以达到毫秒级的采样频率，优化产品测试工艺，使得测试数据更加精准。

　　3. 测试系统可以根据用户的需求添加或删减测试项目和仪器，后续可更加灵活的适配各类测试项目，无需重新开发软件和项目。

　　4. 大数据分析，数据洞察模块免去了用户需要购买分析模块或人工数据分析的烦恼，可以更直观的反馈给用户数据的各项对比以及分析图表。