MCU芯片测试：性能指标测试痛点是什么？ATECLOUD能否解决？

　　MCU芯片测试指标的核心是性能指标，包括处理器性能、存储器容量和读写速度，外设性能等。芯片测试对自动化测试的要求很高，ATECLOUD-IC不仅解决了传统测试方法的问题，而且也可以满足芯片测试的高要求，高效地完成MCU芯片性能指标的测试。

　　MCU芯片测试的痛点

　　1.手动搭建测试环境，测试繁琐

　　2.手动记录测试数据，记录数据量大，容易出错

　　3.复杂测试业务逻辑，无法手动完成测试

　　4.分散自动化测试，数据分散，管理不统一

　　5.从研发到中试到生产，数据关联分析没有专业工具

　　6.长时间测试，工作量大

　　

　　ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统

　　1. 兼容各大品牌，内含多种测试项目，无代码编程模式，根据性能指标需要测试的项目及参数，快速搭建方案，一键运行测试。

　　2. 支持批量测试，大大提升测试效率。

　　3. 芯片性能指标测试的数据会自动存储，无需手动记录，避免手动记录数据时出错。

　　4. 测试过程实时观测，检验产品是否合格。

　　5. 测试数据可以以图表形式展示，助力对MCU芯片性能指标的分析。

　　6. 可以自定义数据报告，支持一键生成导出。

　　7. 已完成的历史测试以列表形式展现，方便查看以往的测试信息。

　　ATECLOUD-IC是天宇微纳研发的一款芯片自动化测试系统，在MCU芯片测试过程支持批量测试，极大提高了测试效率，并且会自动管理、汇总采集数据，以图标形式展现数据，帮助进行智能数据分析。