半导体产品使用高温老化测试技术

主要功能：为了达到满意的合格率，几乎所有产品在出厂前都必须经过老化处理。制造商如何在不缩短老化时间的情况下提高效率？本文介绍了一种在老化过程中进行功能测试的新方法，以减少和缩短与老化过程相关的成本和时间问题。

在半导体行业，关于器件老化存在着各种争论。与其他产品一样，半导体随时可能因各种原因而失效。老化是通过使半导体超载而使缺陷在短时间内出现，以避免使用早期出现故障。如果不进行老化，很多半导体产品由于器件和制造工艺的复杂性，在使用中会出现很多问题。

使用后几小时至几天内出现的缺陷（取决于制造工艺的成熟度和设备的整体结构）称为早期故障。老化后，器件基本上要求100%消除本次引起的故障。准确确定老化时间的唯一方法是参考以前收集的老化故障和故障分析统计数据，而大多数制造商都希望减少或消除老化。
老化过程必须保证出厂的产品满足用户对可靠性的要求。此外，它必须能够提供工程数据以提高设备性能。

模拟量采集/老化房采集软件

一般来说，老化过程是对半导体器件的工作环境和电气性能进行严格的测试，使故障尽早出现。重大故障发生在设备生命周期的开始和最后十分之一。老化是为了加快设备在其生命周期前 10% 的运行速度，迫使早期故障在更短的时间内发生，通常是几小时，而不是几个月或几年。

并非所有半导体都根据客户的产品需求进行分类：

例如：用于药品储存，名称可能称为恒温室。对于电子产品、汽车仪表、电能表、液晶显示器、工业仪表、手机等，通电老化筛选的名称可能称为高温老化室或高温老化筛选室。做逆变器、电子设备、电脑主机、冰箱、洗衣机、空调、打印机、饮水机、轮胎等。名字可能叫高温老化试验室或老化房。

本设备外框架结构由双面彩钢保温板组成。尺寸根据客户要求定制，根据不同要求配置。老化房主要由机柜、控制系统、风循环系统、加热系统、时间控制系统、试验负载等组成。通过老化测试，可以检测出缺陷产品或缺陷零件，为客户快速发现和解决问题提供了有效手段，充分提高了客户生产效率和产品质量。

由于老化房的性能和环境必须保证所需的温度、电能质量、负载能力、工作时间以及操作人员的安全和习惯，一套合格的老化设备应该是安全、可靠、高效的节能设备。高效、功能齐全且可扩展的设备。

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