XRD测试常见问题及解答（二）

1.如果谱图中出现了并峰（两个峰并成了一个大峰）怎么解释？

答：出现并峰的这两个峰应该离的很近，并峰说明这两个峰对应的晶面没有长好（如果对样品进行了某种处理，那么也有可能这种处理方式破坏了这两个晶面）

2.当某种物质部分结晶时，为使定量更准确，有没有其他辅助方式？

答：部分结晶的物相至少要出现三强峰，此时可以进行定量无需辅助。否则不能进行定量。
 

3.研磨样品200目怎么控制呢？

答：200目是大概的范围，可以用筛子筛分。
 

4.晶胞结构亚微米级别，研磨以后会不会破坏晶体结构，影响分析？

答：过度研磨是会破坏晶体结构，影响分析的。

5.自己使用仪器测试，测样前处理样品是否需要固体研磨时间？一份样品是否多测两次观察是否有较大差异？仪器是否有定期的矫正方法或者可以使用标准样品矫正？

答：一般情况下，处理样品不需要固体研磨时间，只要样品的粒度达到要求即可；同一样品没有必要多测两次观察是否有差异，因为X射线衍射仪短期内是不会出现测样误差的；X射线衍射仪有定期的矫正方法，具体到不同型号方法不同，可以咨询应用工程师；也可以用标准物质进行矫正。
 

6.点光源和线光源测试的结果一致吗？

答：不一致，两种光源的应用范围不同，线光源用于常规粉末