車用電子專用解決方案 MBIST and Repair

一、 STARTTM v3 與 EZ-BIST 提供晶片開發者 BIST (Built-In Self Test) 和 ECC
(ECC, Error Correcting Code)，如下圖一。 讓晶片開發商在 CP (CP, Chip Probe)
階段，透過 STARTTM v3 與 EZ-BIST 內建豐富的測試演算法，把記憶體缺陷
的 Die 檢測出來， 降低 DPPM（百萬分之缺陷率）。此外，透過 STARTTM v3
與 EZ-BIST 的 ECC 功能，讓車用晶片在系統運行中進行記憶體錯誤更正的
行為，確保行車安全。芯測科技的 STARTTM v3 與 EZ-BIST 所提供的 BIST
和 ECC 並存的功能，充分符合 ISO26262 的規範。
 

二、 STARTTMv3 與 EZ-BIST 除了提供 BIST 和 ECC 的並存功能外， STARTTM v3 與 EZ-BIST 更提供了 POT (Power_On Test) 的功能，如下圖二。 當車用電子的晶片內的記憶體缺陷範圍過大的時候，透過 POT 的功能，可以進行大範圍的記憶體檢測與修復，延長車用晶片的使用壽命與增加行車安全。