单片机ADC的 输入阻抗

1.SAR型(逐次逼近型)ADC,这种ADC内阻都很大,一般500K以上。即使阻抗小的ADC,阻抗也是固定的。所以即使只要被测源内阻稳定,只是相当于电阻分压,可以被校正。

2.开关电容型,如TLC2543之类。他要求很低的输入阻抗用于对内部采样点燃快速充电。这时最好有低阻源,否则会引起误差。实在不行可以在外部并联一个很大 的 电容,每次内取样后,大电容的电压下降不多。因此并联外部大电容后,开关电容输入可以等效为一个纯阻性阻抗,可以被校正。

3.FLASH直接比较型,大多数ADC都是直接比较型,也称为闪速型,一般都是低阻抗的。要求低阻源。对外表现纯阻性,可以和运放直接相连。

4.双积分型,大多输入阻抗极高,几乎不用考虑阻抗问题

5.sigma_delta型。这是目前精度最高 的ADC类型,也是最难伺候的一种ADC。重点讲一下要注意的问题:

a.内部缓冲器的使用。sigmadelta型ADC属于开关电容型输入,必须有低阻源。所以为了简化外部设计,内部大多集成有缓冲器。缓冲器打开,则对外呈现高阻,使且不能到测0V。一定要特别小心!一般用在电桥测量中,因为共模范围都在1/2VCC附近。不必过分担心缓冲器的零漂,通过内部校零寄存器很容易校正的。

b.输入阻抗问题。sigmadelta型ADC属于开关电容型输入,在低阻源上工作良好。但是有时候为了抑制共模或者抑制奈奎斯特频率外的信号,需要在输入端加RC滤波器,要想一下电容充电特性就很容易明白的。还有一个折中的办法,把C取很大,远大于几百万倍的采样电容Cs(4-20PF),则输入等效纯电阻,分压误差可以用GAINOFFSET寄存器校正。

c.运放千万不能和sigamadelta型ADC直连,前面说过,开关电容输入电路电路周期用采样电容从输入端采样,每次和运放并联的时候,会呈现低阻,和运放输出阻抗分压,造成电压下降,负反馈立刻开始校正,但运放压摆率slewrate有限,不能立刻相应。于是造成瞬间电压跌落,取样接近完毕时,相当于高阻,运放输出电压上升,但压摆率使运放来不及校正,结果是过冲,而这时正是最关键的采样结束时刻。

d.差分输入和双极性的问题。SD型ADC都可以差分输入,都支持双极性输入。但是这里的双极性并不是指可以测负压,而是Vi+,Vi-两脚之间的电压。

 

 

 

 

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