4. DFT进阶——ATPG

ATPG  automatic test pattern generation

1. physical defects 

short and open 

drc escape 

具有多样性等特点  

不好测试，所以学术界提出了fault  model  概念，具体作用有 test generation   fault simulation

quality prediction     fault  diagnosis

除了测试还能具体分析芯片的covereage

fault model 定义：描述错误的行为

2.  fault model 种类

stcuk at  fault  model 注意和工艺无关

 

第2种 为 dealy  fault model

行为表征：比如100M 能工作，600M不能工作

delay  fault  model又分为两种  transition delay fault model 

path delay fault  model 

transition delay  faults ：slow to rise      slow to fall 

 

path  delay  fault  ：其实可以把 transition delay  看成一种特殊 path delay 

描述这个 fault　就是整个路径的延迟大于时钟周期

实际上这种　ｆａｕｌｔ　ｍｏｄｅｌ　更接近实际的情况，但是却不用这种ｍｏｄｅｌ为什么呢，因为ｐａｔｈ　上路径太多，一个好的ｍｏｄｅｌ除了反应具体的ｄｅｆｅｃｔ特性，还要好求解，显然ｐａｔｈ　ｄｅｌａｙ　ｆａｕｌｔ　　ｍｏｄｅｌ　没有第２种特性

ＩＤＤＱ　　ｆａｕｌｔ　　ｍｏｅｌ　　用的很少

就是在晶体管不工作的时候，漏电流过大，但是现在尺寸已经很小，漏电流本身就比较大，这个阈值不好设置。

因此现在大部分用的　ｆａｕｌｔ　　ｍｏｄｅｌ　都是ｓｔｕｃｋ　　ａｔ　　　和　　ｔｒａｎｓｉｔｉｏｎ　　ｄｅｌａｙ　fault model ，对这两种 model 进行求解 生成结构性测试向量

3.  collapsing faults list

 

我们当然希望做到完备的测试 exhaustive testing ，但是实际上却不可能，太浪费时间

 

 

对于一个与门，有一个输入 stuck  at 0 与输出 stuck  at  0 等价，

（1）fault free 正常输出  如果 vector detect 到 fault，那么将会与 fault free ciruit 电路不一样

（2）能够被同一个vector detect 到fault 认为是等价的

（3）对于等价的 fault 分为一类，一类产生一条结构性测试向量即可

 

假设fault free 的 circuit 用 h(x)表示

faulty circuit 用 hu(x)

可以很明显得出 ： 两个异或得到1

 

例子：a   stuclk at 1   进行求解  ab=01

例子：fault collasping 之后的 测试向量明显减少

4.  atpg  tcl  和结果

 

5. atpg flow

产生结构性测试向量都是根据　　ｆａｕｌｔ　ｍｏｄｅｌ　来的

选择fault model  ，基于D 算法进行求解

 

6.什么是D 算法

ATPG   general  rules 

 

一些专业术语

例子: 第一个与门如果要把D forward    那么另一个port 一定要为1 或者d 

第2个与门输出的1  如果要向 backward   那么输入必须都为1

7. fault  simlution 

     两种 parallel  fault  simulation

     parallet  pattern  single fault propagation