X光平板探测器(探测卡/采集卡)

X光平板探测器的基本原理：

• X线球管发射可以穿透物体的X线，平板探测器能够捕捉X线并进行数据转换，将转换的数字信号传输到计算机，计算机通过重建软件将数据转化成能在屏幕上显示的内容。

X光平板探测器结构：

• 以非晶硅平板探测器为例，入射的X线经平板探测器之后，会首先碰到晶体感光层(红色层)，在这里X线会被吸收并转化成可见光，可见光继续向下会被非晶硅表面的光电二极管所感知(墨绿色层)，并转化为相应数量的电子，这些电子会传输到读出电路(绿色层)进行模拟和数字转换，转换后的数字信号会传输到计算机进行重建，然后就可以在计算机的屏幕上看到这些图片。

第一层–晶体感光层：

• 感光层是由一些特殊的化合物晶体组成，这类化合物在太阳光下并没有什么异常，当有X线照射到这些晶体上面，这些晶体就会发光发亮，目前常用的晶体化合物是硫氧化钆和碘化铯。晶体吸收的X线会按照一定比例转化成可见光被非晶硅玻璃板上的光电二极管所吸收转化为相应数量的电子。日常所说的平板探测器微单元尺寸，指的就是玻璃板上的像素单元尺寸如上图所示。

• 每一个像素单元里占面积最大的就是光电二极管，光电二极管的面积越大，能吸收的可见光就越多，采集到的信息也就越多，漏掉的信息就越少。

• 横向的电路主要负责控制tft三极管开关的通断，而纵向的电路负责将光电二极管产生的电子传输出去。

平板探测器集成电路原理：

单双能平板探测器概念：

• 所谓单能系统是指射线源射出的X射线具有单一的能量，单能射线源射出扇形单能射线穿透物体到达探测器并被探测器吸收，转化为数字信号输入工控机，经过一系列数据处理最终以灰度图像的形式显示在安检机的电脑屏幕上，安检员通过对图像的形状和轮廓来判断是否有危险品，单能系统不具备物质区分的能力。
• 双能安检机系统根据使用的射线源个数又可以分为真双能系统和伪双能系统。真双能系统是指安检机具有两个单能射线源，分别发射高能射线和低能射线，同时接收端有两组探测器，分别接收衰减后的高能射线和低能射线。双能安检机和单能安检机相比具有更多优势，首先是穿透力方面多能安检机具有更高的穿透力，成像效果方面多能安检机也具有非常清晰的成像效果和更加丰富的判断色彩，更加有利于安检员对安检物品的判断。伪双能系统是指安检机只具有一个射线源，该射线源是一个具有一定能谱宽度的多能射线源，X 射线穿过物体到达探测器，先被低能探测器接收得到低能数据，接着通过一个铜片低能滤波器，滤除低能部分，留下的高能部分被下一层的高能探测器接收，得到高能数据。
• 真/伪双能系统将得的高低能信号输入PC 机，经过一系列数据处理和物质等效原子序数相关的属性值计算， 最终在计算机屏幕上呈现有一定物质类别区分的伪彩色图像。