凯智通 TF卡19翻盖探针转DIP48测试座

产品简介

1. 采用手动翻盖式结构，操作方便； 

2. 产品通用程度高，只要换限位框，即可测试所有引脚相同，外形尺寸不同的TF卡；

3. 上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，保证TF卡的压力均匀，不移位； 

4. 高精度的定位槽，保证TF卡定位精确，生产效率高；

5. 配不同的主探板，可实现芯邦，UT165，安国，SMI,NETWORK方案可互换！ 

6. 交货快：最快一天内交货。

 7. 探针材料：铍铜(标准)； 

8. 探针可更换，维修方便，成本低； 

9. 绝缘材料：FR-4、PPS等； 

10. 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离）

11. 可以定制TF卡/SD卡1拖4的夹具； 

12 可以定制测试Flash wafer晶圆探针台； 

13. 可定制三合一开卡器；

14.可定制基于SSD和基于U盘的LGA测试治具； 

15. 提供基于U盘的1拖4 TSOP测试夹具（兴邦、安国、迈克微），更换SOCKET可以实现LGA与TSOP共用；

16. 可定制UDP一拖十六测试夹具；※ 可提供FLASH全端测试解决方案；比如，基于编程器（烧录机）原理的烧录    （低端格式化）和基于U盘的低级格式化解决方案；