基于加速科技ST2500的TPS73625芯片测试(3)

目录

三、TPS73625芯片线性调整率测试

1、测试原理

2、测试原理图

 3、测试步骤

4、测试代码

5、测试结果

三、TPS73625芯片线性调整率测试

1、测试原理

        TPS736xx这种N-MOS结构的线性稳压器,其工作区间如图所示。当VN-VOUT>VO时,此时稳压器工作在饱和区。当输出端负载 (IOUT)固定时,在输入允许的电压范围内改变VN,稳压器的输出理论上都是一个固定的值。然而,现实中由于工艺原因,稳压器的输出随输入电压改变,会产生定影响。我们用线性调整率来表征稳压器的这种输入电压改变,而输出电压恒定不变的能力。稳压器的线性调整率越小,输入电压变化对输出电压的影响越小,稳压器的性能越好。图7.13中展示了输出电压及输入电压的关系。

基于加速科技ST2500的TPS73625芯片测试(3)_第1张图片

基于加速科技ST2500的TPS73625芯片测试(3)_第2张图片

         以TPS73625为例,根据芯片手册要求 (Vo (典型值) + 0.5V  VN  5.5V) ,我们可以确定3V< VN < 5.5V。测试步骤为,VIN为3V,测量VOUT输出记作Vo; VIN为5.5V,测量VOUT输出记作Vmax; V= 5.5V - 3V = 2.5V.

基于加速科技ST2500的TPS73625芯片测试(3)_第3张图片



        AVine: LDO线性调整率
        Vo: LDO名义输出电压
        Vmax: LDO最大输入电压
        AV: LDO输入从Vo变化到Vmax时输出电压的最大值和最小值之差

2、测试原理图

基于加速科技ST2500的TPS73625芯片测试(3)_第4张图片

 3、测试步骤

        (1)闭合K3,OUT引脚连接250Ω负载

        (2)使用PPMU资源向EN引脚施加2V电压

        (3)使用DPS资源向IN引脚施加3V电压

        (4)使用BPMU的“FNMV”工作模式测量OUT引脚电压Uo1

        (5)使用DPS资源向IN引脚施加5.5V电压

        (6)使用BPMU资源测量OUT引脚电压Uo2

        (7)根据公式计算线性调整率

基于加速科技ST2500的TPS73625芯片测试(3)_第5张图片

        (8)对结果进行分BIN,并将硬件复位

4、测试代码

USER_CODE void LNR_TEST() {
	TEST_BEGIN

	// TODO Edit your code here
	//定义变量存储读取结果
	vector stMeasValue,stMeasValue_LNR;

	//闭合K3,选择250Ω负载
	cbit.Signal("K3").SetOn();
	sys.DelayUs(10000);

	//使用PPMU资源向EN引脚施加2V电压
	ppmu.Signal("EN").SetMode("FVMI").VoltForce(2.0).CurrRange(40e-3).Execute();

	//使用DPS资源向IN引脚施加3V电压
	dps.Signal("IND").SetMode("FVMI").VoltForce(3.0).CurrRange(0.5).CurrClamp(0.5, -0.5).Execute();

	//使用BPMU资源测量OUT引脚输出电压UO1
	bpmu.Signal("OUTB").SetMode("FNMV").Execute();
	sys.DelayUs(30000);
	bpmu.Signal("OUTB").Measure(stMeasValue);

	//使用DPS资源向IN引脚施加5.5V电压
	dps.Signal("IND").SetMode("FVMI").VoltForce(5.5).CurrRange(0.5).CurrClamp(0.5, -0.5).Execute();

	//使用BPMU资源测量OUT引脚输出电压值UO2
	bpmu.Signal("OUTB").SetMode("FNMV").Execute();
	sys.DelayUs(25000);
	bpmu.Signal("OUTB").Measure(stMeasValue_LNR);

	//计算线性调整率
	stMeasValue_LNR[0].dbValue = (stMeasValue_LNR[0].dbValue-stMeasValue[0].dbValue)/(stMeasValue[0].dbValue*2.5)*100;

	//进行分BIN操作
	binObj.CheckResultAndBin(0, stMeasValue_LNR, 1);


	//释放PPMU,DPS资源
	ppmu.Signal("EN").Connect();
	dps.Signal("IND").Connect();

	//复位
	ppmu.Signal("EN").SetMode("FVMI").VoltForce(0.0).Execute();
	ppmu.Signal("EN").SetMode("FNMV").Execute();

	dps.Signal("IND").SetMode("FVMI").VoltForce(0.0).Execute();
	dps.Signal("IND").SetMode("FNMV").Execute();

	//断开K3
	cbit.Signal("K3").SetOff();
	sys.DelayUs(8000);

	TEST_ERROR
	binObj.HandlerException(0);
	TEST_END
}

5、测试结果

基于加速科技ST2500的TPS73625芯片测试(3)_第6张图片

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