STM32内部ADC测量时产生噪声的原因与消除的方法

首先让我们来看一张实际项目过程中，测试发现的问题：

每隔1ms 就会起来一个信号，这个信号大概是250ns。

我所使用的芯片是 STM32F103RCT6.使用内部ADC测量电压，采用定时器触发采样，每隔1ms触发采样一次。经过分析初步分析，是由于软件触发内部ADC采样的时候引起的噪声信号，

为了消除该信号，查阅相关文档，在 【AN2834应用笔记-如何在STM32微控制器中
获得最佳ADC精度】中的得知：


消除噪声的解决方法是，在ADC的引脚添加一个电容，用于消除噪声，由于我的电路图中并没有添加这个电容：


该引脚直接连接到了MCU中，并未添加电容进行滤波消除抗干扰，所以才导致上述问题，修改后，正常！