硬件工程师面试常见问题(7)

第三十一问:RTC电路,电池寿命估算

硬件工程师面试常见问题(7)_第1张图片

上图可知,该电路有两个供电一个是电池供电,一个是其他供电,已知电池大小为120mAh,该电路在电池供电下吃3uA的电流,计算

120*(10^3)/ 3/ 24/ 365 = 4.56(年);

第三十二问:latch电平触发和register边沿触发的区别

latch电平触发:高于某个值时为高电平,低于某个值时为低电平,高电平或者低电平采样触发事件。

register边沿触发:上升沿或者下降沿采样触发事件。

常见边沿触发总线:I2C总线,串口总线,SPI总线,就是边沿采样的总线;

第三十三问:可编程逻辑器件有哪些?

PAL(Programmable Array Logic)
GAL(Generic Array Logic)
FPGA(Field Programmable GateArray)
PLD(programmable logic device)

CPLD(更复杂的PLD)

第三十四问:简单描述一个单片机系统的主要组成模块

单片机,电源,复位电路,时钟电路,debug调试接口(下载口)

第三十五问:三态门和高阻态

什么是三态门?

硬件工程师面试常见问题(7)_第2张图片

高阻态:就是输入与输出之间,阻值很大,呈现一个开路的状态。 

你可能感兴趣的:(硬件工程)