从LM3S到LM4F TM4C ARM Cortex-M4 : LM3S的ADC的测试

上一篇文章讲述了本文对TI TM4C Cortex-M4 的多通道ADC DC特性测试，作为对比，本文返回M3，对LM3S系列中的LM3S3748的ADC进行测试。

具模拟输入通道与ADC核、序列SEQ、采样次数STEP的关系和配置方法等，请参考上一篇文章。这里主要讲述测试结果。使用的硬件是EK-LM3S3748.

一，动态性能测试

测试方法：利用官方的qs-scope示波器程序，对模拟信号发生器输出的正弦信号进行采样显示，并用另外一台示波器同时对比工作。

测试结果

• 有的时候程序会死机
• 对于100KHz以内的模拟信号测试效果满意，波形圆润
• 可以接收到5MHz甚至更高频的模拟信号，但是采样率最高才只有1MHz，只能说ADC的模拟输入带宽远远不止1MHz。
• 由于电路板的模拟输入偏置调整和衰减，其设计接受的模拟输入信号幅度范围为：差分33V直流
• 没有具体对ADC的性能，如SNR SFDR THD等测试。

二，静态性能DC测试

修改上一篇文章的代码，完全依照上篇文章的方法对ADC进行测试。测试过程没有采用qs-scope所占用的ADC0~3，而是采用了ADC4~7，即：

//PD7-AIN4
//PD6-AIN5
//PD5-AIN6
//PD4-AIN7

测试结果

• 利用具有精确电压电流显示的电源输出作为ADC的模拟输入，测试结果表明M3的ADC测量值是精确的。具体指标没有计算。
• 4通道同时工作，单独给每个通道输入电压，观察该通道测量值，并与电压源自身的显示的电压值进行比较，发现测量值准确。
• 同时给多个通道输入确定的电压值，各个通道测量值准确。
• 由于LM3S内部多通道模拟输入公用一个ADC内核，因此一旦某通道测量值准确，其他通道测量值一定准确。这里的模拟通道意义仅仅在于配置哪一个管脚的模拟输入送入ADC，ADC转换输出的数值保存在哪个地方而已，对ADC的测量值没有影响。不可能存在某个通道采样值正确，而另外一个通道错误的情况。除非芯片封装错误。

因此，LM3S3748的ADC静态输入测试值是准确的。

附上源码【】