S3C2440读写NAND FLASH（大页）

 

K9F2G08U0A nand flash 的容量为256M byte，其内部有2048块，每块有64页，每页有2K+64字节，其中每页会分为main区(主域)和spare区(备用域),main区一般用来存入主要数据，spare一般用来存放ECC校验码。

下面几点是编程时需要注意的：

1.NAND FLASH芯片手册里说的column是指页内地址，row是指页地址，page也是指页;

2.删除时是以块为单位的，但是删除块时写的是row地址，自动会删除row所在的块;

3.读写方式有页读写，或随机读写，所谓的随机读写就是可以在页内的任一地方读写一个字节;

4.ECC校验码分为main区的ECC和spare区的ECC，它们一般都会存放在64字节的spare区内，下面是翻译2440手册的关于ECC编程的内容：

       ECC 编程向导

      1)       在软件模式， ECC 模块会为全部读 / 写数据产生 ECC 检验码。所以你需要在读或者写数据前给 InitECC(NFCONT[4]) 位写 1 和给 MainECCLock(NFCONT[5]) 位写 0(Unlock) 来复位 ECC 值。

MainECCLock(NFCONT[5]) 和 SpareECCLock(NFCONT[6] 控制 ECC 校验码是否产生。

      2)       任何时候读或者写数据时， ECC 模块在 NFMECC0/1 上产生 ECC 校验码。

      3)       在你完成读或者写一个页后（不包含备用数据域），给 MainECCLock 位置 1(lock) 。 ECC 校验码被锁上， ECC 状态寄存器的值将不会被改变。

      4)      清 0(Unlock) SpareECCLock(NFCONT[6]) 位来产生备用域的 ECC 校验码。

      5)      任何时候读或者写数据时，备用域 ECC 模块在寄存器 NFSECC 上产生 ECC 校验码。

      6)      在完成读或者写备用域后，给 SpareECCLock 位置 1(lock) 。 ECC 校验码被锁上， ECC 状态寄存器的值将不会被改变。

      7)       一旦完成你就可以使用这些值来记录到备用域或者检测位错误。

接下来是代码：

  NAND-FLASH.H内容：

  /***********
128K Pages
2048 Blocks

1 device = 2048 blocks =128k pages
1 block  = 64 pages
1 page   = (2k +64)bytes

***********/

#ifndef __NAND_FLASH_H__
#define __NAND_FLASH_H__

#include "lhg_def.h" //U8,U32相关的宏

#define MAX_NAND_BLOCK 2048 /*定义nand最大块数*/
#define NAND_PAGE_SIZE 2048 /*定义一页的容量*/
typedef struct nand_id_info //芯片的ID信息
{
 U8 IDm; //marker code
 U8 IDd; //device code
 U8 ID3rd;
 U8 ID4th;
 U8 ID5th;
} nand_id_info;


typedef struct bad_block_info //登记坏块用的
{
  U8 area[MAX_NAND_BLOCK];//0表示非坏块，1表示坏块
  U32 sum;//坏块的总数
} bad_block_info;


//

//NAND 操作指令
#define NAND_CMD_READ_1st             0x00
#define NAND_CMD_READ_2st             0x30
#define NAND_CMD_RANDOM_WRITE         0x85
#define NAND_CMD_RANDOM_READ_1st      0x05
#define NAND_CMD_RANDOM_READ_2st      0xe0
#define NAND_CMD_READ_CB_1st          0x00
#define NAND_CMD_READ_CB_2st          0x35
#define NAND_CMD_READ_ID              0x90
#define NAND_CMD_RES                  0xff
#define NAND_CMD_WRITE_PAGE_1st       0x80
#define NAND_CMD_WRITE_PAGE_2st       0x10
#define NAND_CMD_BLOCK_ERASE_1st      0x60
#define NAND_CMD_BLOCK_ERASE_2st      0xd0
#define NAND_CMD_READ_STATUS          0x70

//NAND 中断向量
#define INT_NFCON (24)

//NFCONF HCLK=100MHZ
#define S3C2440_NFCONF_TACLS_init (1<<12)
#define S3C2440_NFCONF_TWRPH0_init (4<<8)
#define S3C2440_NFCONF_TWRPH1_init (0<<4)
#define S3C2440_NFCONF_BusWidth_init (0) /*8-bit bus 这里会根据GPG15硬件自行设置，也可以软件手动设置*/
#define S3C2440_NFCONF_init() ( rNFCONF = S3C2440_NFCONF_TACLS_init  | /
                                        S3C2440_NFCONF_TWRPH0_init | /
                                        S3C2440_NFCONF_TWRPH1_init | /
                                        S3C2440_NFCONF_BusWidth_init )
                            
//NFCONT
#define S3C2440_NFCONT_LockTight_init (0<<13)
#define S3C2440_NFCONT_SoftLock_init (0<<12)
#define S3C2440_NFCONT_EnbIllegalAccINT_init (1<<10) /*enable Illegal INT*/
#define S3C2440_NFCONT_EnbRnBINT_init (0<<9) /*禁止Rnb中断*/
#define S3C2440_NFCONT_RnB_TransMode_init (0<<8) /*上升沿产生RnB中断*/
#define S3C2440_NFCONT_SpareECCLock_init (1<<6)
#define S3C2440_NFCONT_MainECCLock_init (1<<5)
#define S3C2440_NFCONT_InitECC_init (1<<4)
#define S3C2440_NFCONT_Reg_nCE_init (1<<1) /*不选择nand flash芯片*/
#define S3C2440_NFCONT_MODE_init (0) /*NAND flash controller disable (Don’t work) 使用时在此处置1*/
#define S3C2440_NFCONT_init() ( rNFCONT = S3C2440_NFCONT_LockTight_init | /
                                        S3C2440_NFCONT_SoftLock_init | /
                                        S3C2440_NFCONT_EnbIllegalAccINT_init | /
                                        S3C2440_NFCONT_EnbRnBINT_init | /
                                        S3C2440_NFCONT_RnB_TransMode_init | /
                                        S3C2440_NFCONT_SpareECCLock_init | /
                                        S3C2440_NFCONT_MainECCLock_init | /
                                        S3C2440_NFCONT_InitECC_init | /
                                        S3C2440_NFCONT_Reg_nCE_init | /
                                        S3C2440_NFCONT_MODE_init )

//NFSTAT
#define S3C2440_NFSTAT_init() ( rNFSTAT &= 0x3 )

//NFESTAT0
#define S3C2440_NFESTAT0_init() ( rNFESTAT0 = 0 )

//NFESTAT1
#define S3C2440_NFESTAT1_init() ( rNFESTAT1 = 0 )

//
#define select_nand() ( rNFCONT &= ~(1<<1) ) /*选择芯片*/
#define dis_select_nand() ( rNFCONT |= 1<<1 ) /*不选择芯片*/
#define controller_enable() ( rNFCONT |= 1 ) /*开控制*/
#define controller_disable() ( rNFCONT &= ~1 ) /*禁止控制*/

//
extern void nand_flash_init(void);//初始化
extern int nand_block_erase(U32 num);//num要删除的块号
extern int nand_page_write(U32 addr,U8 *buffer,U32 size);//addr要写的起始页地址，buffer要写的缓存，size要写的字节大小最大为4G
extern int nand_page_read(U32 addr,U8 *buffer,U32 size);//addr开始页地址,从每页00地址开始读
extern int nand_random_read(U32 paddr,U32 offset,U8 *data); //随机读数据 paddr页地址,offset页内偏移地址
extern int nand_random_write(U32 paddr,U32 offset,U8 data);//随机写,paddr页地址,offset页内偏移地址
extern void nand_test_bad_block(void);//测试坏块函数，并标记在nand_bbi变量里和spare区最后一个地址（如果非0xff则为坏块）


#endif

 

 

    NAND-FLASH.c内容:

/***********
128K Pages
2048 Blocks

1 device = 2048 blocks =128k pages
1 block  = 64 pages
1 page   = (2k +64)bytes
***********/

#include "2440addr.h"
#include "NAND-FLASH.h"
#include "uart.h"
#include "lhg_def.h"
//#include "iic_lhg.h"

#define NAND_DEBUG 1
#define USE_ECC 1

nand_id_info nand_id;//定义登记芯片ID的全局变量
bad_block_info nand_bbi;//定义来登记坏用的全局变量

void init_nand_bbi(void)//初始化变量
{
  U32 i;
  nand_bbi.sum=0;
  for (i=0;i<MAX_NAND_BLOCK;i++)
   nand_bbi.area[i]=0;//
}

void nand_mask_bad_block(U32 n)//标志坏块,n是坏块的块号
{
 #ifdef NAND_DEBUG
 Uart_Printf("NAND found and mask a bad block=%d .",n);
 #endif
 if (nand_bbi.area[n]!=1)
 {
  nand_bbi.area[n]=1;
  nand_bbi.sum++;
  nand_random_write(n*64,2048+64-1,0);//每块的第一个spare的最后一个字节，标志本块是否为坏块,非0xff为坏块
 }
}

int detect_nand_busy(void)//检测是否忙
{
  U32 a;
  a=0;
  while(!(rNFSTAT&(1<<2)))
  {
   a++;
   if (a==5000000)//等待超时
   {
    Uart_Printf("/r/n Error: Detect Nand Busy time out!!! /r/n");
    rNFSTAT |= (1<<2);//清忙标志
    return -1;//错误返回-1
   }
  }
 
  rNFSTAT |= (1<<2);//清忙标志
  return 1;
}

void nand_reset(void)//复位
{
  rNFCMD  = NAND_CMD_RES;
  detect_nand_busy();//检测忙
}

void control_start(void){ //开启
 select_nand();
 controller_enable();
 rNFSTAT |= (1<<2);//清忙标志
 nand_reset();
}

void control_end(void) //关闭
{
 dis_select_nand();
 controller_disable();
}
  
void ecc_main_init(void)//初始化ECC值
{
 rNFCONT |= 1<<4;//initEcc
}
                                                             
void ecc_main_start(void)//开始main ECC
{
 rNFCONT &= ~(1<<5);//unlock
}

void ecc_main_end(void)//结束main ECC
{
 rNFCONT |= 1<<5;//unlock
}

void ecc_spare_start(void)//开始spare ECC
{
// rNFCONT |= 1<<4; //initEcc
 rNFCONT &= ~(1<<6); //unlock
}

void ecc_spare_end(void)//结束spare ECC
{
 rNFCONT |= 1<<6; //unlock
}

void __irq nandINT(void) //中断函数
{
  //此处写处理代码
  #ifdef NAND_DEBUG
  Uart_Printf("/r/n Nand Error... In interrupt now!!!");//只有错误才会进入中断
  #endif
  rSRCPND |= 0x1<<INT_NFCON; //清中断标志位
  rINTPND |= 0x1<<INT_NFCON; //清中断标志位
}


void nand_read_id(void)//读取芯片ID信息
{
 control_start();//开控制
 rNFCMD  = NAND_CMD_READ_ID;
 rNFADDR = 0;
 //读ID
 nand_id.IDm=(U8)rNFDATA8;
 nand_id.IDd=(U8)rNFDATA8;
 nand_id.ID3rd=(U8)rNFDATA8;
 nand_id.ID4th=(U8)rNFDATA8;
 nand_id.ID5th=(U8)rNFDATA8;
 
 #ifdef NAND_DEBUG
 Uart_Printf("/r/n Read NAND Flash ID:");
 Uart_Printf("/r/n NAND Mark code:   0x%x ",nand_id.IDm);//打印ID信息
 Uart_Printf("/r/n NAND Device code: 0x%x ",nand_id.IDd);
 Uart_Printf("/r/n NAND 3rdID code:  0x%x ",nand_id.ID3rd);
 Uart_Printf("/r/n NAND 4thID code:  0x%x ",nand_id.ID4th);
 Uart_Printf("/r/n NAND 5thID code:  0x%x ",nand_id.ID5th);
 #endif
 
 control_end();//关控制
}

int nand_block_erase(U32 num)//num要删除的块号
{  
    num=num*64;
    control_start();//开控制
    nand_reset();//复位
    rNFCMD  = NAND_CMD_BLOCK_ERASE_1st;
    rNFADDR = num&0xff;
    rNFADDR = (num>>8)&0xff;
    rNFADDR = (num>>16)&0xff;
    rNFCMD  = NAND_CMD_BLOCK_ERASE_2st;
    detect_nand_busy();//
   
    rNFCMD =NAND_CMD_READ_STATUS; //读状态
    if (rNFDATA8&1)
    {
     #ifdef NAND_DEBUG
     Uart_Printf("/r/n Error:nand erase error... block=0x%x",num/64);
     #endif
     control_end();//关控制
     nand_mask_bad_block(num/64);//登记为坏块
     return -1;//删除错误返回0
    }
   
    control_end();//关控制
    #ifdef NAND_DEBUG
    Uart_Printf("/r/n NAND block %d erase completed.",num/64);
    #endif
    return 1;
}

int nand_page_write(U32 addr,U8 *buffer,U32 size) //addr要写的起始页地址，buffer要写的缓存，size要写的字节大小最大为4G
{
 U32 i,n,p,temp,ecc;
 U8 *bu;
 bu=buffer;
 temp=0;
 
 n=size/2048+(((size%2048)==0)?0:1); //计算出要写的页数,小于一页的部分当作一页
 
 for (i=0;i<n;i++)
 { 
    control_start();//开控制
    nand_reset();//复位
   
   #ifdef USE_ECC
    ecc_main_init();
    ecc_main_start();//可以产生main区ECC
   #endif
  
  //  detect_nand_busy();//检测忙
    rNFCMD  = NAND_CMD_WRITE_PAGE_1st;
    rNFADDR = 0; //从每页的0地址开始
    rNFADDR = 0; //从每页的0地址开始
    rNFADDR = (addr)&0xff;
    rNFADDR = (addr>>8)&0xff;
    rNFADDR = (addr>>16)&0xff;
   
  for (p=0;p<2048;p++)//写入一页
  {
    temp=temp+1;
    if (temp>size)
     rNFDATA8 = 0xff;//多余的填写0xff
    else
     rNFDATA8 = *(bu+p);
  }
   delay_lhg(100,100);//
  #ifdef USE_ECC
   ecc_main_end();//锁定main区ecc
   ecc=rNFMECC0;//main ECC值写入备用区的头0~4个地址内
  
   ecc_spare_start();//开始sprare区ECC
   rNFDATA8 = ecc&0xff;
   rNFDATA8 = (ecc>>8)&0xff;
   rNFDATA8 = (ecc>>16)&0xff;
   rNFDATA8 = (ecc>>24)&0xff;
   ecc_spare_end();
   delay_lhg(100,100);//
   ecc = rNFSECC;//spare ECC值写入备用区的5~6两个地址内

   rNFDATA8 = ecc&0xff;
   rNFDATA8 = (ecc>>8)&0xff;
  
  #endif
  
   bu=bu+2048;//页增量
   addr++;
  
   rNFCMD  = NAND_CMD_WRITE_PAGE_2st;
   detect_nand_busy();//检测忙
   rNFCMD =NAND_CMD_READ_STATUS; //读状态
   if (rNFDATA8&1)
   {
    #ifdef NAND_DEBUG
    Uart_Printf("/r/n nand write page error: page addr=0x%d",addr-1);//写入失败，以后改进
    #endif
    control_end();//关控制
    nand_mask_bad_block((addr-1)/64);//登记为坏块
    return -1;//写入错误返回-1
   }
   control_end();//关控制
 }
   return 1;//成功返回1
}

int nand_page_read(U32 addr,U8 *buffer,U32 size)//addr开始页地址,从每页00地址开始读
{  
    U32 i,n,p,temp,ecc;
    U8 *bu,no;
    bu=buffer;
    temp=0;
   
    n=size/2048+(((size%2048)==0)?0:1); //计算出要读的页数,小于一页的部分当作一页
 
    for (i=0;i<n;i++)
    {
     control_start();//开控制
     nand_reset();//复位

     #ifdef USE_ECC
      rNFESTAT0 = 0;//复位错误标志位
      ecc_main_init();
      ecc_main_start();//可以产生main区ECC
     #endif
      
     rNFCMD  = NAND_CMD_READ_1st;
     rNFADDR = 0;
     rNFADDR = 0;
     rNFADDR = addr&0xff;
     rNFADDR = (addr>>8)&0xff;
     rNFADDR = (addr>>16)&0xff;
     rNFCMD  = NAND_CMD_READ_2st;
     detect_nand_busy();
     for (p=0;p<2048;p++)
     {
       temp=temp+1;
       if (temp>size)
       no=rNFDATA8;//多余的读出来扔掉
       else
       *(bu+p) = rNFDATA8;
     }
    
     #ifdef USE_ECC
     rNFESTAT0=0;
      ecc_main_end();//锁定main区ECC
      delay_lhg(100,100);//
      ecc_spare_start();//解锁spare区ecc
      ecc=rNFDATA8;//从flash读出main区ECC
      no=rNFDATA8;
      ecc |= ((U32)no)<<8;
      no=rNFDATA8;
      ecc |= ((U32)no)<<16;
      no=rNFDATA8;
      ecc |= ((U32)no)<<24;
      rNFMECCD0 = ((ecc&0xff00)<<8)|(ecc&0xff);//硬件检验main ECC   
      rNFMECCD1 = ((ecc&0xff000000)>>8)|((ecc&0xff0000)>>16); 
      ecc_spare_end();//锁定spare区ecc
      delay_lhg(100,100);//
      ecc=rNFDATA8;//从flash读出spare区ECC的值
      no=rNFDATA8;
      ecc |= ((U32)no)<<8;
    
      rNFSECCD = ((ecc&0xff00)<<8)|(ecc&0xff);//硬件检验spare ECC 
      delay_lhg(100,100);//延时一会

      ecc=rNFESTAT0&0xffffff;//ecc只是临时用一下错误状态，并非ecc内容
    
     if (ecc!=0)//有错误
     {
      //以后再优化
      #ifdef NAND_DEBUG
      Uart_Printf("/r/n Nand ecc check error... page addr=0x%x,NFESTAT0=0x%x ",addr,ecc);
      #endif
      nand_mask_bad_block((addr+i)/64);//登记为坏块
      return -1;//
     }
    #endif
   
     bu=bu+2048;
     addr++;
     control_end();//关控制
    }
   
    return 1;
}

int nand_random_read(U32 paddr,U32 offset,U8 *data) //随机读数据 paddr页地址,offset页内偏移地址
{
   control_start();//开控制
   nand_reset();//复位
  
   rNFCMD  = NAND_CMD_READ_1st;
   rNFADDR = 0;
   rNFADDR = 0;
   rNFADDR = paddr&0xff;
   rNFADDR = (paddr>>8)&0xff;
   rNFADDR = (paddr>>16)&0xff;
   rNFCMD  = NAND_CMD_READ_2st;  
  
   detect_nand_busy();
   rNFCMD  = NAND_CMD_RANDOM_READ_1st;
   rNFADDR = offset&0xff; //写入页内偏移地址
   rNFADDR = (offset>>8)&0xff;
   rNFCMD  = NAND_CMD_RANDOM_READ_2st;
  
   *data   = rNFDATA8;
   control_end();
   return 1;
}

int nand_random_write(U32 paddr,U32 offset,U8 data)//随机写,paddr页地址,offset页内偏移地址
{
   control_start();//开控制
   nand_reset();//复位
  
   rNFCMD  = NAND_CMD_WRITE_PAGE_1st;
   rNFADDR = 0;
   rNFADDR = 0;
   rNFADDR = paddr&0xff;
   rNFADDR = (paddr>>8)&0xff;
   rNFADDR = (paddr>>16)&0xff;
  
   rNFCMD  = NAND_CMD_RANDOM_WRITE;
   rNFADDR = offset&0xff; //写入页内偏移地址
   rNFADDR = (offset>>8)&0xff;
  
   rNFDATA8 = data;
   rNFCMD  = NAND_CMD_WRITE_PAGE_2st;
   detect_nand_busy();//检测忙
  
   rNFCMD =NAND_CMD_READ_STATUS; //读状态
    if (rNFDATA8&1)
    {
    #ifdef NAND_DEBUG
     Uart_Printf("/r/n Error:nand random write error... paddr=0x%x,offset=0x%x ",paddr,offset);
    #endif
     return -1;//删除错误返回0
    }
   
    control_end();
    return 1;//成功返回1
}


void nand_test_bad_block(void)//测试坏块函数，并标记spare区最后一个地址，如果非0xff则为坏块
{
 
 U8 dest[64*2048];//一个块的main区容量
 U8 src [64*2048];
 U32 i,k;
 
    #ifdef NAND_DEBUG
   Uart_Printf("/r/n test and mask bad block is begain. /r/n");
   #endif
 //
 //main区检测
 for (i=0;i<64*2048;i++)
 {
  dest[i]=0xff;//初始化缓冲区
  src [i]=0;
 }
 //删除所有块
 for (i=0;i<MAX_NAND_BLOCK;i++)
 {
  nand_block_erase(i);
 }
 
 for (i=0;i<MAX_NAND_BLOCK;i++)//测试所有块的main区是否有坏块
 {
  nand_page_write(i*64,src,64*2048);
  nand_page_read(i*64,dest,64*2048);//使用了ecc校验读出来即可登记坏块信息
 }

 for (i=0;i<64*2048;i++)
 {
  dest[i]=0;//初始化缓冲区
  src [i]=0xff;
 }
 //删除所有块
 for (i=0;i<MAX_NAND_BLOCK;i++)
 {
  nand_block_erase(i);
 }
 
 for (i=0;i<MAX_NAND_BLOCK;i++)//测试所有块的main区是否有坏块
 {
  nand_page_write(i*64,src,64*2048);
  nand_page_read(i*64,dest,64*2048);//使用了ecc校验读出来即可登记坏块信息
 }
  
 //
 //spare区检测
 for (i=0;i<64;i++)
 {
  dest[i]=0xff;//初始化缓冲区
  src [i]=0;
 }
 //删除所有块
 for (i=0;i<MAX_NAND_BLOCK;i++)
 {
  nand_block_erase(i);
 }
  for (i=0;i<MAX_NAND_BLOCK*64;i++)//测试所有块的spare区是否有坏块
 {
   if ( nand_bbi.area[i/64] ==1 )//如果是坏块则跳过
   continue;
  
   for (k=0;k<64;k++)
   {
    nand_random_write(i,2048+k,src[k]);
    nand_random_read(i,2048+k,&dest[k]);
    if (dest[k]!=src[k])//不相等则登记为坏块
    {
    nand_mask_bad_block(i/64);
    break;
    }
   }
  
 }
 
  for (i=0;i<64;i++)
 {
  dest[i]=0x0;//初始化缓冲区
  src [i]=0xff;
 }
 //删除所有块
 for (i=0;i<MAX_NAND_BLOCK;i++)
 {
  nand_block_erase(i);
 }
  for (i=0;i<MAX_NAND_BLOCK*64;i++)//测试所有块的spare区是否有坏块
 {
   if ( nand_bbi.area[i/64] ==1 )//如果是坏块则跳过
   continue;
  
   for (k=0;k<64;k++)
   {
    nand_random_write(i,2048+k,src[k]);
    nand_random_read(i,2048+k,&dest[k]);
    if (dest[k]!=src[k])//不相等则登记为坏块
    {
    nand_mask_bad_block(i/64);
    break;
    }
   }
 }
 
   #ifdef NAND_DEBUG
   Uart_Printf("/r/n test and mask bad block is over. /r/n");
   #endif
}

void nand_flash_init(void)//初始化
{
  #ifdef NAND_DEBUG
  Uart_Printf("/r/nNAND FLASH init");//
  #endif
 
  //中断入口地址
  pISR_NFCON = (U32)nandINT;
 
  //配置GPIO
  rGPGUP |= 0x7<<13; //GPG13~15关闭上位
  rGPGCON &= ~((U32)0x3f<<26);//GPG13~15为输入
 
  //初始化各寄存器
  S3C2440_NFCONF_init();
  S3C2440_NFCONT_init();
  S3C2440_NFSTAT_init();
  S3C2440_NFESTAT0_init();
  S3C2440_NFESTAT1_init();
 
  //关于中断
  rINTMSK &= ~(0x1<<INT_NFCON) ; //中断
  rINTMOD &= ~(0x1<<INT_NFCON); //IRQ
  rSRCPND |= 0x1<<INT_NFCON; //清中断标志位
  rINTPND |= 0x1<<INT_NFCON; //清中断标志位
 
  init_nand_bbi();//初始化全局变量
  nand_read_id();//读ID

  nand_test_bad_block();//测试并登记坏块
}