MLC的寿命是否真如厂商标称的只有3000次?论原装芯片测试的重要性!

本末倒置一下,先讲结论,对于时间紧迫且无心细看者来说,也可省却拉到底部看结论的麻烦。

测试结论:

1、标称3000次寿命的MLC,实际测试,部分Block可以超过20000次;

2、每个Block都是独立的个体,每个Block的初始状况都不完全相同,尽管是同一条产线同一种工艺;

3、无论原装Nand Flash还是非原装Nand Flash都有测试的必要性,通过测试可以将闪存进行不同等级分类;

4、同一颗闪存芯片,每个Block的健康程度都是不同的,每个Block都可以被视为独立的个体;

5、闪存真实的寿命可能远远大于厂商标称,只有真正测试过,才能发挥闪存的更大价值;

6、深入理解闪存在不同P/E阶段的寿命表现,可以更好的规划ECC,才能在质保期内保证产品无故障;

7、对于希望在一定阶段将MLC mode转换为SLC的用户来说,何时开始转换至关重要,其RBER对应的P/E是最重要的参考手段;

8、一个只按闪存原厂datasheet来执行设计的工程师是一个非常非常平庸的工程师;

P/E 与误码率相关性总体情况图示:

局部放大图示

本次测试耗时108小时45分

测试方法:

1、所选择的Block有离散分布及相邻分布(2、3、1050、1051);

2、每个Block及Block中的每个Page均使用不同的伪随机数;

3、下一次的P/E均自动在上一次的伪随机上加1,保证本次写入的伪随机数与上次完全不同;

4、每20次P/E Cycle记录一次bit错误总数;

5、Erase与Program的时间间隔为0;

6、数据共计记录22960次P/E对应的bitError(20*1148=22960)耗时108小时45分;

7、使用3000 P/E cycle Intel MLC进行测试;

8、工作表以10进制命名,如:Block3103代表Block 3103(0C1F)

测试脚本、结果请下载附件,亦可根据自身需求进行二次分析。

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