adc 采样 校准

STM32内部参照电压VREFIN的使用


STM32的内部参照电压VREFINT和ADCx_IN17相连接，它的作用是相当于一个标准电压测量点，内部参照电压VREFINT只能出现在主ADC1中使用。

内部参照电压VREFINT与参考电压不是一回事。ADC的参考电压都是通过Vref+提供的并作为ADC转换器的基准电压。

当我们使用的Vref+是直接取自用VCC电压时，当VCC电压波动比较大时或稳压性能比较差时，可以借用STM32的内部参照电压VREFINT校正测量精度。

以测量1通道的电压值为例，先读出参照电压的ADC测量结果，记为ADre；再读出要测量通道1的ADC转换结果，记为ADch1；则要测量的电压为：

Vch1 = VREFINT* (（（ADch1*（VREF/4096））/（ADre*（VREF/4096））)  

注：VREFINT=1.2V，VREF为参考电压值=3.3V

公式简化：

Vch1 = VREFINT*（ADch1/ADre）  

这种方法等于变相将内部参照电压VREFINT当成是ADC参考电压，也就是说，此时Vref参考电压的准确度已在此已对结果影响不大了，ADC的转换结果基本由VREFINT的精度决定。

注：一般情况下，这种办法只适合于当Vref+参考电压（其实也就是VCC电压）离散性实在太差的情况下使用。

我们知道，STM32中64脚和小于64脚的型号，Vref+在芯片内部与VCC信号线相连，没有引到片外，这样AD的参考电压就是VCC上的电压，那么我们可以使用一个高精度的外部参照电压，然后用上面的方法，也许可以解决因VCC电源电压精度不高带来的ADC测量不准确的问题。

本帖最后由 abbott 于 2014-5-5 08:56 编辑 建议采用以下方法结合使用： 1，采用内部参考 内部参考在芯片出厂时已经校准过精度了！（不清楚是否所有型号都校准过） 其厂内校准过程是在外部供3V电源，将采样内部参考的ADC值写入校准寄存器VREFINT_CAL！ 因此，我们可以使用以下公式算出实际电压： V=(3*VREFINT_CAL*ADC_DATA)/(VREFINT_DATA*FULL_SCALE) 根据这个公式，程序需要获取VREFINT_DATA和ADC_DATA! 不过我们实际测试这个电压参考在低温下偏差比较大，可能是芯片本身的问题，目前还不清楚是全系列，还是个别型号有这个问题！ 2，使用过采样!