物联网驱动编写之NFC/RFID的调试总结

AB卡调试过程以及总结

14443_A卡类型

Mifare系列卡片（NXP-恩智浦半导体生产的芯片）

根据卡内使用芯片的不同

            分为Mifare UltraLight，又称为MF0；

            Mifare S50和S70，又称为MF1；

            Mifare Pro，又称为MF2；

            MifareDesfire，又称为MF3

14443_B卡调试步骤:

1.先调通A卡的使用:A卡的调试步骤

2.在A卡的基础上，修改初始化代码，初始化需要注意的要有如下修改;

（1）初始化

disable ASK为100%

TxmodeReg=3

RxmodeReg=0x0b

TypeReg=0

（2）载波调制调试：在载波调试的之前先大概微调试下信号的匹配电路

调试的原则：

1） LC的匹配，我调试主要先调试L2，L3，C25，C30.再调试2中电路，调的原则就是TP38的电压在15V以上；

调试的经验范围：P-P值为15~30v，我调到20V左右就好了；调好这个数值是通讯载波被调制的基础；

还有就是元器件的选择很重要，尤其是L2与L3，我之前在调试匹配电路的时候由于身边没有合适的元器件(封装很重要，我之前默认使用的是0603的2.2Uf一直不行，换了大封装的2.2uF就变好了) ，所以怎么调也调不到该电压值；还有C25与C30的数值可以试一试47P-82P之间的容值（47p，56p，68p常见）；

2） 修改调试和没有调制的值，对应的天线不一样，值是不一样的。

用示波器观察波形，测试并计算出调制后是否是调制深度是否为8%～14%，

如下调试出来的一个波形180mv/(740+560) mv =13.8%,经验之谈在这个范围的距离会好一点；还有接受电路最好是5:1分压

主要修改初始化中：

GsnReg=0xf8

CwgsReg=0x3f

ModgspReg=0x05

如下一组调试数值：主要调试0X29的寄存器ModgspReg

           3)调试的正常通讯的时候在 REQB 的时候发送是 5个字节，3个字节的数据+2个字节的CRC校验，注意的是有些芯片需要加入CRC校验，有些不需要，之后的ATTRIB命令也是如此，详细命令值以及解释以在14443_3B的通讯协议做简述如下：

如：命令

Reader发出>> 05 00 00  71 FF

REQB命令：

0x50

+AFI（族和子族：00表示所有族的所有子族）

+时间槽（bit8-6=000,bit5=1表示PCD支持扩展ATQB，0表示不支持； bit4=1表示是WUPB命令，0表示REQB命令；bit3-1编码时间槽，取值2的n次方： 这里=0表示2的0次方 =1，PICC返回ATQB并进入Ready-Declared状态，若时间槽大于1则PICC随机产生一个小于等于命令中时间槽的数作为卡片时间槽 若随机产生的时间槽等于1，则PICC响应ATQB，并进入Ready-Declared状态 若随机产生的时间槽不等于1，则卡片不响应ATQB，PICC进入Ready-Requested状态，等待Slot-marker命令） +CRC_B<<50FFFFFFFF00000000 8081812C90 ATQB响应：0x50+PUPI（4字节，PICC唯一标识符，可固定，可随机生成——卡片上电进 入IDLE状态时生成，一次上电只生成一次） +应用数据（4字节，字节1=reqb命令中的AFI，字节2-3=应用AID的crc 结果，字节4的bit8-5表示符合AFI的应用个数。