VLSI数字集成电路设计——组合逻辑门(上)

文章目录

  • 1.互补CMOS的静态特性
  • 2. 互补CMOS的传播延时
  • 3.大扇入时的设计技术
  • 4.逻辑门的延时计算

VLSI数字集成电路设计——组合逻辑门(上)_第1张图片

1.互补CMOS的静态特性

VLSI数字集成电路设计——组合逻辑门(上)_第2张图片
由于A、B=0,有很大的上拉作用,所以曲线如图
又由于体效应:
在这里插入图片描述
所以另外两条如图

2. 互补CMOS的传播延时

VLSI数字集成电路设计——组合逻辑门(上)_第3张图片
在这里插入图片描述
在这里插入图片描述

3.大扇入时的设计技术

1. 增大晶体管尺寸
可以减少电阻,但是会增加较大的寄生电容,多用作无负载的时候

2.逐级加大晶体管尺寸
在这里插入图片描述
基于该例子的公式,可以知道使R1最小,R2次之,降低起主要作用的电容

3.处理关键路径
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4.重组逻辑结构
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4.逻辑门的延时计算

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在这里插入图片描述
tp0:反相器的本征延迟
f:等效扇出,定义为 :该门的外部负载电容 / 输入电容,f又称电气努力(electric effort)
p:该复合门 / 简单反相器的本征(无负载)延迟
g:逻辑努力(logic effort)————对于给定负载,复合门必须比反相器“更努力”才能得到类似相应

一些常用的 p:
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一些常见的g 逻辑努力:VLSI数字集成电路设计——组合逻辑门(上)_第8张图片
VLSI数字集成电路设计——组合逻辑门(上)_第9张图片
VLSI数字集成电路设计——组合逻辑门(上)_第10张图片


h=fg 为门努力
在这里插入图片描述
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