ENVI下的统计分析功能

ENVI下的统计分析功能

图像统计是计算表征图像像元值数理统计特征、空间分布特征和空间结构特征的各种参量。ENVI的统计可对整个图像进行,也可以对某个感兴趣区或某一类地物分布区进行统计，统计结果以数字报表或文件形式给出。

1.       图像像素统计

统计单波段影像的最大、最小值、均值、标准差、协方差和直方图；多波段之间波段间的统计特征包括协方差矩阵、相关系数矩阵、本征向量和散点分布图等

1)       直接统计

(1)         快速统计

快速统计可以快速的统计图像的最大值、最小值、均值、标准差和直方图分布。

在Available Band List下相应的文件或波段列表上点击右键菜单，点击Quick Statics即可弹出统计界面。

基本统计界面见图，可设置不同的绘图显示、统计信息查看等操作。

选择绘图函数

左键的曲线信息查看

中键（滚轮）按下拉框放大

右键弹出图像绘制参数设置功能菜单

可绘制图例、曲线紧凑、恢复原始显示、打开文件、绘图参数和设置绘图函数等功能。

设置绘图显示参数

查看统计报表

(2)         完整统计

选择菜单[Basic Tools]-[Statistics]-[Compute Statistics]，选择文件后弹出统计界面。

统计类型包括

Basic Stats（基本统计：最大值、最小值、均值和标准差）

Histograms：直方图；

Covariance：协方差矩阵、相关系数矩阵和本征向量；

Covariance Image：生成协方差、相关系数和本征向量文件；

Output to a Statistics File：生成.sta文件，可通过主菜单[Basic]-[Statics]-[View Statics File]查看；

Output to a Text Report File：统计结果输出为文本文件；

Report Precision：设置统计精度（浮点数小数点个数）；

2)       去除背景值

很多时候，实际统计只需要统计部分区域，ENVI可通过感兴趣区或掩膜的方式来实现。

(1)         感兴趣区统计

ENVI的感兴趣区工具启动点击image窗口的[Overlay]-[Region Of Interest]。对已有的ROI进行统计可直接点击ROI工具上的Statics按钮。

需要注意，点击[Basic Tools]-[Statistics]-[Compute Statistics]功能选择文件时，若选择ROI，则统计的是ROI的最小外包矩形范围内的图像。

(2)         掩膜统计

统计时可以通过掩膜的方式将不想统计的区域“掩掉”。

掩膜创建方式：[Basic Tools]-[Masking]-[Build Mask]，选择显示窗体后弹出掩膜定义界面。

掩膜创建可选择菜单[Options]下的选项，可以选择数据范围、注记、ROI、ROI交集、矢量文件等多种创建方式。

点击[Basic Tools]-[Statistics]-[Compute Statistics]功能选择文件时，选择掩膜文件即可。

    

3)       统计扩展补丁

  如需要单独忽略特定值的统计，可以使用统计扩展补丁。

 

http://bbs.esrichina-bj.cn/ESRI/thread-68867-1-1.html 

4)       多波段统计

多波段影像的波段间统计可以点击主菜单[Basic Tools]-[Statistics]-[Sum Data Bands]，弹出操作界面。

可选择波段间的计算函数，有Sum（求和）、Sum^2（平方和）、Mean（波段平均值）、Standard Deviation（标准差）、Variance（方差）、Skewness（偏斜度）、Kurtosis（峰度）和Mean Absolute Deviation（平均绝对偏差）。