HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析

HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析

测试概要

  • 测试目的:分析HC32F003系列芯片几种时钟源的性能差异。主要分析频率、占空比的误差范围。
  • 测试项目:分别测试以下几种时钟源的性能,每种测试不少于10次。
    • 内部高速4MHz
    • 内部高速8MHz
    • 内部高速16MHz
    • 内部高速22.12MHz
    • 内部高速24MHz
    • 内部低速32.8KHz
    • 内部低速38.4KHz
    • 外部高速32MHz
  • 测试环境及工具:
    • 环境:室内,温度和电压均稳定(内部晶振易受电压和温度波动影响)。
    • 工具:HC32F005C6、200M数字示波器(200M精度较差)。
  • 测试人员:Calm
  • 测试时间:2019-07-18
测试结论

测试项 频率波动范围 平均频率 平均正占空比 频率平均偏差 正占空比平均偏差 ppm
内部高速4MHz(理论频率4000000Hz) 3.97~3.98MHz 3.97MHz 50.449% -0.03MHz +0.449% 7500
内部高速8MHz(理论频率8000000Hz) 8.13~8.16MHz 8.139MHz 58.531% +0.139MHz +8.531% 17375
内部高速16MHz(理论频率16000000Hz) 15.97~16.04MHz 16.004MHz 55.015% +0.004MHz +5.015% 250
内部高速22.12MHz(理论频率22120000Hz) 21.83~21.93MHz 21.90MHz 48.213% -0.22MHz -1.787% 9945.75
内部高速24MHz(理论频率24000000Hz) 23.65~23.90MHz 23.861MHz 47.393% -0.139MHz -2.607% 5791.67
内部低速32kHz(理论频率32768Hz) 32.56~32.70kHz 32.645kHz 55.275% -0.123kHz -5.275% 3753.66
内部低速38kHz(理论频率38400Hz) 38.36~38.47kHz 38.433kHz 55.583% +0.033kHz +5.583% 859.375
外部低速32MHz(理论频率32000000Hz) 31.97~32.00MHz 31.997MHz 58.059% -0.001MHz +8.059% 31.25

结论:内部高速、内部低俗、外部高速三种时钟源中频率误差最小的是外部32MHz(ppm仅为31.25),相对而言内部时钟频率误差较大。内部高速时钟频率精度最高的是16MHz(ppm为250),精度最低的是内部8M(ppm为17375)。内部低速精度更好的是38k。以上测试是在电压和温度(室温)稳定的情况下。

测试数据

  • 内部高速4MHz(理论频率4000000Hz)

    • 测试结论统计

      测试组号 频率 正占空比 频率偏差 正占空比偏差
      1 3.97MHz 50.79% -0.03MHz +0.79%
      2 3.97MHz 50.44% -0.03MHz +0.44%
      3 3.97MHz 49.96% -0.03MHz -0.04%
      4 3.97MHz 50.44% -0.03MHz +0.44%
      5 3.98MHz 50.52% -0.02MHz +0.52%
      6 3.97MHz 50.40% -0.03MHz +0.40%
      7 3.97MHz 50.75% -0.03MHz +0.75%
      8 3.97MHz 50.00% -0.03MHz +0.00%
      9 3.97MHz 50.75% -0.03MHz +0.75%
      10 3.97MHz 50.44% -0.03MHz +0.44%
      频率波动范围 平均频率 平均正占空比 频率平均偏差 正占空比平均偏差
      3.97~3.98MHz 3.97MHz 50.449% -0.03MHz +0.449%
    • 测试组号:1
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第1张图片
      描述:频率=3.97MHz,正占空比50.79%。
      结论:频率偏差-0.03MHz,占空比偏差+0.79%。

    • 测试组号:2
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第2张图片
      描述:频率=3.97MHz,正占空比50.44%。
      结论:频率偏差-0.03MHz,占空比偏差+0.44%。

    • 测试组号:3
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第3张图片
      描述:频率=3.97MHz,正占空比49.96%。
      结论:频率偏差-0.03MHz,占空比偏差-0.04%。

    • 测试组号:4
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第4张图片
      描述:频率=3.97MHz,正占空比50.44%。
      结论:频率偏差-0.03MHz,占空比偏差+0.44%。

    • 测试组号:5
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第5张图片
      描述:频率=3.98MHz,正占空比50.52%。
      结论:频率偏差-0.02MHz,占空比偏差+0.52%。

    • 测试组号:6
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第6张图片
      描述:频率=3.97MHz,正占空比50.40%。
      结论:频率偏差-0.03MHz,占空比偏差+0.40%。

    • 测试组号:7
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第7张图片
      描述:频率=3.97MHz,正占空比50.75%。
      结论:频率偏差-0.03MHz,占空比偏差+0.75%。

    • 测试组号:8
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第8张图片
      描述:频率=3.97MHz,正占空比50.00%。
      结论:频率偏差-0.03MHz,占空比偏差0.00%。

    • 测试组号:9
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第9张图片
      描述:频率=3.97MHz,正占空比50.75%。
      结论:频率偏差-0.03MHz,占空比偏差+0.75%。

    • 测试组号:10
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第10张图片
      描述:频率=3.97MHz,正占空比50.44%。
      结论:频率偏差-0.03MHz,占空比偏差+0.44%。

  • 内部高速8MHz(理论频率8000000Hz)

    • 测试结论统计

      测试组号 频率 正占空比 频率偏差 正占空比偏差
      1 8.14MHz 58.63% +0.14MHz +8.63%
      2 8.14MHz 58.47% +0.14MHz +8.47%
      3 8.13MHz 58.54% +0.13MHz +8.54%
      4 8.14MHz 59.28% +0.14MHz +9.28%
      5 8.14MHz 58.63% +0.14MHz +8.63%
      6 8.13MHz 58.54% +0.13MHz +8.54%
      7 8.14MHz 58.47% +0.14MHz +8.47%
      8 8.13MHz 57.72% +0.13MHz +7.72%
      9 8.14MHz 58.63% +0.14MHz +8.63%
      10 8.16MHz 58.40% +0.16MHz +8.40%
      频率波动范围 平均频率 平均正占空比 频率平均偏差 正占空比平均偏差
      8.13~8.16MHz 8.139MHz 58.531% +0.139MHz +8.531%
    • 测试组号:1
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第11张图片
      描述:频率=8.14MHz,正占空比58.63%。
      结论:频率偏差+0.14MHz,占空比偏差+8.63%。

    • 测试组号:2
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第12张图片
      描述:频率=8.14MHz,正占空比58.47%。
      结论:频率偏差+0.14MHz,占空比偏差+8.47%。

    • 测试组号:3
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第13张图片
      描述:频率=8.13MHz,正占空比58.54%。
      结论:频率偏差+0.13MHz,占空比偏差+8.54%。

    • 测试组号:4
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第14张图片
      描述:频率=8.14MHz,正占空比59.28%。
      结论:频率偏差+0.14MHz,占空比偏差+9.28%。

    • 测试组号:5
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第15张图片
      描述:频率=8.14MHz,正占空比58.63%。
      结论:频率偏差+0.14MHz,占空比偏差+8.63%。

    • 测试组号:6
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第16张图片
      描述:频率=8.13MHz,正占空比58.54%。
      结论:频率偏差+0.13MHz,占空比偏差+8.54%。

    • 测试组号:7
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第17张图片
      描述:频率=8.14MHz,正占空比58.47%。
      结论:频率偏差+0.14MHz,占空比偏差+8.47%。

    • 测试组号:8
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第18张图片
      描述:频率=8.13MHz,正占空比57.72%。
      结论:频率偏差+0.13MHz,占空比偏差+7.72%。

    • 测试组号:9
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第19张图片
      描述:频率=8.14MHz,正占空比58.63%。
      结论:频率偏差+0.14MHz,占空比偏差+8.63%。

    • 测试组号:10
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第20张图片
      描述:频率=8.16MHz,正占空比58.40%。
      结论:频率偏差+0.16MHz,占空比偏差+8.40%。

  • 内部高速16MHz(理论频率16000000Hz)

    • 测试结论统计

      测试组号 频率 正占空比 频率偏差 正占空比偏差
      1 16.03MHz 55.13% +0.03MHz +5.13%
      2 15.97MHz 54.95% -0.03MHz +4.95%
      3 16.04MHz 54.85% +0.04MHz +4.85%
      4 15.97MHz 54.63% -0.03MHz +4.63%
      5 15.96MHz 55.23% -0.04MHz +5.23%
      6 16.03MHz 55.45% +0.03MHz +5.45%
      7 16.03MHz 55.13% +0.03MHz +5.13%
      8 16.01MHz 55.18% +0.01MHz +5.18%
      9 16.00MHz 54.72% 0.00MHz +4.72%
      10 16.00MHz 54.88% 0.00MHz +4.88%
      频率波动范围 平均频率 平均正占空比 频率平均偏差 正占空比平均偏差
      15.97~16.04MHz 16.004MHz 55.015% +0.004MHz +5.015%
    • 测试组号:1
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第21张图片
      描述:频率=16.03MHz,正占空比55.13%。
      结论:频率偏差+0.03MHz,占空比偏差+5.13%。

    • 测试组号:2
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第22张图片
      描述:频率=15.97MHz,正占空比54.95%。
      结论:频率偏差-0.03MHz,占空比偏差+4.95%。

    • 测试组号:3
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第23张图片
      描述:频率=16.04MHz,正占空比54.85%。
      结论:频率偏差+0.04MHz,占空比偏差+4.85%。

    • 测试组号:4
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第24张图片
      描述:频率=15.97MHz,正占空比54.63%。
      结论:频率偏差-0.03MHz,占空比偏差+4.63%。

    • 测试组号:5
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第25张图片
      描述:频率=15.96MHz,正占空比55.23%。
      结论:频率偏差-0.04MHz,占空比偏差+5.23%。

    • 测试组号:6
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第26张图片
      描述:频率=16.03MHz,正占空比55.45%。
      结论:频率偏差+0.03MHz,占空比偏差+5.45%。

    • 测试组号:7
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第27张图片
      描述:频率=16.03MHz,正占空比55.13%。
      结论:频率偏差+0.03MHz,占空比偏差+5.13%。

    • 测试组号:8
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第28张图片
      描述:频率=16.01MHz,正占空比55.18%。
      结论:频率偏差+0.01MHz,占空比偏差+5.18%。

    • 测试组号:9
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第29张图片
      描述:频率=16.00MHz,正占空比54.72%。
      结论:频率偏差0.00MHz,占空比偏差+4.72%。

    • 测试组号:10
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第30张图片
      描述:频率=16.00MHz,正占空比54.88%。
      结论:频率偏差0.00MHz,占空比偏差+4.88%。

  • 内部高速22.12MHz(理论频率22120000Hz)

    • 测试结论统计

      测试组号 频率 正占空比 频率偏差 正占空比偏差
      1 21.90MHz 48.18% -0.22MHz -1.82%
      2 21.87MHz 47.94% -0.25MHz -2.06%
      3 21.93MHz 48.25% -0.19MHz -1.75%
      4 21.93MHz 48.25% -0.19MHz -1.75%
      5 21.93MHz 48.68% -0.19MHz -1.32%
      6 21.90MHz 48.32% -0.22MHz -1.68%
      7 21.91MHz 47.85% -0.21MHz -2.15%
      8 21.89MHz 48.34% -0.23MHz -1.66%
      9 21.91MHz 48.29% -0.21MHz -1.71%
      10 21.83MHz 48.03% -0.29MHz -1.97%
      频率波动范围 平均频率 平均正占空比 频率平均偏差 正占空比平均偏差
      21.83~21.93MHz 21.90MHz 48.213% -0.22MHz -1.787%
    • 测试组号:1
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第31张图片
      描述:频率=21.90MHz,正占空比48.18%。
      结论:频率偏差-0.22MHz,占空比偏差-1.82%。

    • 测试组号:2
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第32张图片
      描述:频率=21.87MHz,正占空比47.94%。
      结论:频率偏差-0.25MHz,占空比偏差-2.06%。

    • 测试组号:3
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第33张图片
      描述:频率=21.93MHz,正占空比48.25%。
      结论:频率偏差-0.19MHz,占空比偏差-1.75%。

    • 测试组号:4
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第34张图片
      描述:频率=21.93MHz,正占空比48.25%。
      结论:频率偏差-0.19MHz,占空比偏差-1.75%。

    • 测试组号:5
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第35张图片
      描述:频率=21.93MHz,正占空比48.68%。
      结论:频率偏差-0.19MHz,占空比偏差-1.32%。

    • 测试组号:6
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第36张图片
      描述:频率=21.90MHz,正占空比48.32%。
      结论:频率偏差-0.22MHz,占空比偏差-1.68%。

    • 测试组号:7
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第37张图片
      描述:频率=21.91MHz,正占空比47.85%。
      结论:频率偏差-0.21MHz,占空比偏差-2.15%。

    • 测试组号:8
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第38张图片
      描述:频率=21.89MHz,正占空比48.34%。
      结论:频率偏差-0.23MHz,占空比偏差-1.66%。

    • 测试组号:9
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第39张图片
      描述:频率=21.91MHz,正占空比48.29%。
      结论:频率偏差-0.21MHz,占空比偏差-1.71%。

    • 测试组号:10
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第40张图片
      描述:频率=21.83MHz,正占空比48.03%。
      结论:频率偏差-0.29MHz,占空比偏差-1.97%。

  • 内部高速24MHz(理论频率24000000Hz)

    • 测试结论统计

      测试组号 频率 正占空比 频率偏差 正占空比偏差
      1 23.87MHz 47.26% -0.13MHz -2.74%
      2 23.85MHz 47.22% -0.15MHz -2.78%
      3 23.90MHz 47.41% -0.10MHz -2.59%
      4 23.89MHz 46.97% -0.11MHz -3.03%
      5 23.89MHz 47.45% -0.11MHz -2.55%
      6 23.87MHz 47.02% -0.13MHz -2.98%
      7 23.89MHz 47.77% -0.11MHz -2.23%
      8 23.65MHz 48.01% -0.35MHz -1.99%
      9 23.90MHz 47.41% -0.10MHz -2.59%
      10 23.90MHz 47.41% -0.10MHz -2.59%
      频率波动范围 平均频率 平均正占空比 频率平均偏差 正占空比平均偏差
      23.65~23.90MHz 23.861MHz 47.393% -0.139MHz -2.607%
    • 测试组号:1
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第41张图片
      描述:频率=23.87MHz,正占空比47.26%。
      结论:频率偏差-0.13MHz,占空比偏差-2.74%。

    • 测试组号:2
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第42张图片
      描述:频率=23.85MHz,正占空比47.22%。
      结论:频率偏差-0.15MHz,占空比偏差-2.78%。

    • 测试组号:3
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第43张图片
      描述:频率=23.90MHz,正占空比47.41%。
      结论:频率偏差-0.10MHz,占空比偏差-2.59%。

    • 测试组号:4
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第44张图片
      描述:频率=23.89MHz,正占空比46.97%。
      结论:频率偏差-0.11MHz,占空比偏差-3.03%。

    • 测试组号:5
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第45张图片
      描述:频率=23.89MHz,正占空比47.45%。
      结论:频率偏差-0.11MHz,占空比偏差-2.55%。

    • 测试组号:6
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第46张图片
      描述:频率=23.87MHz,正占空比47.02%。
      结论:频率偏差-0.13MHz,占空比偏差-2.98%。

    • 测试组号:7
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第47张图片
      描述:频率=23.89MHz,正占空比47.77%。
      结论:频率偏差-0.11MHz,占空比偏差-2.23%。

    • 测试组号:8
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第48张图片
      描述:频率=23.65MHz,正占空比48.01%。
      结论:频率偏差-0.35MHz,占空比偏差-1.99%。

    • 测试组号:9
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第49张图片
      描述:频率=23.90MHz,正占空比47.41%。
      结论:频率偏差-0.10MHz,占空比偏差-2.59%。

    • 测试组号:10
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第50张图片
      描述:频率=23.90MHz,正占空比47.41%。
      结论:频率偏差-0.10MHz,占空比偏差-2.59%。

  • 内部低速32kHz(理论频率32768Hz)

    • 测试结论统计

      测试组号 频率 正占空比 频率偏差 正占空比偏差
      1 32.63kHz 55.20% -0.13kHz +5.20%
      2 32.69kHz 55.24% -0.07kHz +5.24%
      3 32.69kHz 55.15% -0.07kHz +5.15%
      4 32.70kHz 54.99% -0.06kHz +4.99%
      5 32.65kHz 55.15% -0.11kHz +5.15%
      6 32.63kHz 55.41% -0.13kHz +5.41%
      7 32.66kHz 55.19% -0.10kHz +5.19%
      8 32.65kHz 55.57% -0.11kHz +5.57%
      9 32.59kHz 55.43% -0.17kHz +5.43%
      10 32.56kHz 55.42% -0.20kHz +5.42%
      频率波动范围 平均频率 平均正占空比 频率平均偏差 正占空比平均偏差
      32.56~32.70kHz 32.645kHz 55.275% -0.123kHz -5.275%
    • 测试组号:1
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第51张图片
      描述:频率=32.63kHz,正占空比55.20%。
      结论:频率偏差-0.13kHz,占空比偏差+5.20%。

    • 测试组号:2
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第52张图片
      描述:频率=32.69kHz,正占空比55.24%。
      结论:频率偏差-0.07kHz,占空比偏差+5.24%。

    • 测试组号:3
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第53张图片
      描述:频率=32.69kHz,正占空比55.15%。
      结论:频率偏差-0.07kHz,占空比偏差+5.15%。

    • 测试组号:4
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第54张图片
      描述:频率=32.70kHz,正占空比54.99%。
      结论:频率偏差-0.06kHz,占空比偏差+4.99%。

    • 测试组号:5
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第55张图片
      描述:频率=32.65kHz,正占空比55.15%。
      结论:频率偏差-0.11kHz,占空比偏差+5.15%。

    • 测试组号:6
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第56张图片
      描述:频率=32.63kHz,正占空比55.41%。
      结论:频率偏差-0.13kHz,占空比偏差+5.41%。

    • 测试组号:7
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第57张图片
      描述:频率=32.66kHz,正占空比55.19%。
      结论:频率偏差-0.10kHz,占空比偏差+5.19%。

    • 测试组号:8
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第58张图片
      描述:频率=32.65kHz,正占空比55.57%。
      结论:频率偏差-0.11kHz,占空比偏差+5.57%。

    • 测试组号:9
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第59张图片
      描述:频率=32.59kHz,正占空比55.43%。
      结论:频率偏差-0.17kHz,占空比偏差+5.43%。

    • 测试组号:10
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第60张图片
      描述:频率=32.56kHz,正占空比55.42%。
      结论:频率偏差-0.20kHz,占空比偏差+5.42%。

  • 内部低速38kHz(理论频率38400Hz)

    • 测试结论统计

      测试组号 频率 正占空比 频率偏差 正占空比偏差
      1 38.42kHz 56.25% +0.02kHz +6.25%
      2 38.46kHz 55.01% +0.06kHz +5.01%
      3 38.40kHz 55.53% +0.00kHz +5.53%
      4 38.41kHz 55.61% +0.01kHz +5.61%
      5 38.44kHz 55.49% +0.04kHz +5.49%
      6 38.47kHz 55.91% +0.07kHz +5.91%
      7 38.45kHz 55.52% +0.05kHz +5.52%
      8 38.36kHz 55.50% -0.04kHz +5.50%
      9 38.45kHz 55.48% +0.05kHz +5.48%
      10 38.47kHz 55.53% +0.07kHz +5.53%
      频率波动范围 平均频率 平均正占空比 频率平均偏差 正占空比平均偏差
      38.36~38.47kHz 38.433kHz 55.583% +0.033kHz +5.583%
    • 测试组号:1
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第61张图片
      描述:频率=38.42kHz,正占空比56.25%。
      结论:频率偏差+0.02kHz,占空比偏差+6.25%。

    • 测试组号:2
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第62张图片
      描述:频率=38.46kHz,正占空比55.01%。
      结论:频率偏差+0.06kHz,占空比偏差+5.01%。

    • 测试组号:3
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第63张图片
      描述:频率=38.40kHz,正占空比55.53%。
      结论:频率偏差+0.00kHz,占空比偏差+5.53%。

    • 测试组号:4
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第64张图片
      描述:频率=38.41kHz,正占空比55.61%。
      结论:频率偏差+0.01kHz,占空比偏差+5.61%。

    • 测试组号:5
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第65张图片
      描述:频率=38.44kHz,正占空比55.49%。
      结论:频率偏差+0.04kHz,占空比偏差+5.49%。

    • 测试组号:6
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第66张图片
      描述:频率=38.47kHz,正占空比55.91%。
      结论:频率偏差+0.07kHz,占空比偏差+5.91%。

    • 测试组号:7
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第67张图片
      描述:频率=38.45kHz,正占空比55.52%。
      结论:频率偏差+0.05kHz,占空比偏差+5.52%。

    • 测试组号:8
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第68张图片
      描述:频率=38.36kHz,正占空比55.50%。
      结论:频率偏差-0.04kHz,占空比偏差+5.50%。

    • 测试组号:9
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第69张图片
      描述:频率=38.45kHz,正占空比55.48%。
      结论:频率偏差+0.05kHz,占空比偏差+5.48%。

    • 测试组号:10
      [外链图片转存失败(img-44p3srM3-1563529832714)(.\内部低速38k\10.png
      描述:频率=38.47kHz,正占空比55.53%。
      结论:频率偏差+0.07kHz,占空比偏差+5.53%。

  • 外部低速32MHz(理论频率32000000Hz)

    • 测试结论统计

      测试组号 频率 正占空比 频率偏差 正占空比偏差
      1 32.00MHz 59.04% 0.00MHz +9.04%
      2 32.00MHz 57.60% 0.00MHz +7.60%
      3 32.00MHz 58.40% 0.00MHz +8.40%
      4 32.00MHz 58.24% 0.00MHz +8.24%
      5 32.00MHz 57.12% 0.04MHz +7.12%
      6 32.00MHz 57.76% 0.00MHz +7.76%
      7 32.00MHz 58.24% 0.00MHz +8.24%
      8 32.00MHz 58.40% 0.00MHz +8.40%
      9 31.97MHz 58.19% -0.03MHz +8.19%
      10 32.00MHz 57.60% 0.00MHz +7.60%
      频率波动范围 平均频率 平均正占空比 频率平均偏差 正占空比平均偏差
      31.97~32.00MHz 31.997MHz 58.059% -0.001MHz +8.059%
    • 测试组号:1
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第70张图片
      描述:频率=32.00MHz,正占空比59.04%。
      结论:频率偏差0.00MHz,占空比偏差+9.04%。

    • 测试组号:2
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第71张图片
      描述:频率=32.00MHz,正占空比57.60%。
      结论:频率偏差0.00MHz,占空比偏差+7.60%。

    • 测试组号:3
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第72张图片
      描述:频率=32.00MHz,正占空比58.40%。
      结论:频率偏差0.00MHz,占空比偏差+8.40%。

    • 测试组号:4
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第73张图片
      描述:频率=32.00MHz,正占空比58.24%。
      结论:频率偏差0.00MHz,占空比偏差+8.24%。

    • 测试组号:5
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第74张图片
      描述:频率=32.00MHz,正占空比57.12%。
      结论:频率偏差0.00MHz,占空比偏差+7.12%。

    • 测试组号:6
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第75张图片
      描述:频率=32.00MHz,正占空比57.76%。
      结论:频率偏差0.00MHz,占空比偏差+7.76%。

    • 测试组号:7
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第76张图片
      描述:频率=32.00MHz,正占空比58.24%。
      结论:频率偏差0.00MHz,占空比偏差+8.24%。

    • 测试组号:8
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第77张图片
      描述:频率=32.00MHz,正占空比58.40%。
      结论:频率偏差0.00MHz,占空比偏差+8.40%。

    • 测试组号:9
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第78张图片
      描述:频率=31.97MHz,正占空比58.19%。
      结论:频率偏差-0.03MHz,占空比偏差+8.19%。

    • 测试组号:10
      HC32F003系列芯片时钟源性能测试及分析_第79张图片
      描述:频率=32.00MHz,正占空比57.60%。
      结论:频率偏差0.00MHz,占空比偏差+7.60%。

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