耦合测试常识

        手机在设计开发过程中,射频部分的功率校准、匹配度都已调到最佳,再经过板测(传导测试),因此辐射功率是不会超出标准的(天线部分是无源器件),而且我们验证只是天线部分。在测试中出现这种问题则是因为某些近场不确定性环境因素造成的。

        再者即便是功率高出定义标准,我们能说明什么问题?是我们标准匹配电路没调到最佳状态?还是标准天线谐振点没调到最佳频点?

耦合测试只验证天线部分,天线部分并不会因为某些原因而附带附加增益(因为天线部分全是无源器件)来提高辐射功率。

在传导测试时我们已经将功率抑制在国际标准之内,因此根本不会因为匹配电路虚焊、电路缺件等原因而使发射功率增大的问题(天线部分都是无缘器件)。

我们是近场测试,而不是远场辐射测试,如果按辐射测试要求,那么场也应该选择远场而不是近场。耦合测试只是检测天线部分,不是针对性能检测,就算测了也毫无意义。

要记住我们量产的产品电路设计已是优化到最佳,并不会因为无源器件的改变而增加功率辐射(只会减少功率)。所以建议可以取消测试上限


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