PCI Express学习篇---物理层电气特性(三)Transmitter Compliance Test

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PHY Electrical Compliance Test分为Transmitter Compliance Test和Receiver Compliance Test. 

本篇介绍Transmitter Compliance Test。

关于Transmitter Compliance Test Base Spec中有描述,但是描述的是针对Captive Channel的测试方法。

PCI Express学习篇---物理层电气特性(三)Transmitter Compliance Test_第1张图片

DUT是待测试的芯片,要测试的是发送端的device pin,但是无法直接测量,将device pin在PCB上引出一段走线,在TP1处测量,引出的这条trace称为“breakout channel”;

另外复制了一条相同的channel,称为“Replica Channel”,Replica Channel的S参数可以测量;

Replica Channel是为了de-embedding(移除)break channel对Compliance Test的影响,最终得到device pin处的特性。

PCI Express学习篇---物理层电气特性(三)Transmitter Compliance Test_第2张图片

Base Spec针对的是Captive Channel的测量,Captive Channel指的是受限信道,两个device都在同一PCB上,

与之对应的是Not Support Captive Channel,是指CEM Form Factor中描述的,分为System board, Add-in Card这样的结构。

以下是关于Not Support Captive Channel(System board+Add-in Card)的Compliance Test (以16GT/s为例)


以下为System Board的Compliance测试方法:

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连接关系如下图所示:CLB插入system board(DUT)--->ISI--->Scope 

  • ISI是一个loss可变的PCB板
  • Scope是一个带宽25GHz的示波器
  • 示波器内嵌3dB Package model
  • 系统需要上电,DUT发送16GT/s Compliance Pattern

每个均衡的preset捕获2M个UI(125us)的波形。波形需要后处理(参考时钟要同时capture, Behavior Rx EQ)

  • 测量BER=10^-12时的眼高眼宽,每一条lane都必须在至少一个TX EQ Preset时满足 EW>0.3UI EH>15mV (缺少cross-talk等因素,标准还需要调整);
  • 检测收到的data pattern是Compliance Pattern(这个检查是informative,不是强制标准)

PCI Express学习篇---物理层电气特性(三)Transmitter Compliance Test_第4张图片

同理Add-in card(AIC)的测量方法如下:

PCI Express学习篇---物理层电气特性(三)Transmitter Compliance Test_第5张图片

连接关系如下图所示:AIC(DUT)插入CBB--->ISI--->Scope 

  • 20dB additional loss(包含5dB package loss)
  • Scope是一个带宽25GHz的示波器
  • 示波器内嵌5dB Package model
  • 系统需要上电,DUT发送16GT/s Compliance Pattern

每个均衡的preset捕获2M个UI(125us)的波形。波形需要后处理(CDR算法用于恢复时钟, Behavior Rx EQ)

  • 测量BER=10^-12时的眼高眼宽,每一条lane都必须在至少一个TX EQ Preset时满足 EW>0.3UI EH>15mV (缺少cross-talk等因素,标准还需要调整);
  • 检测收到的data pattern是Compliance Pattern(这个检查是informative,不是强制标准)

PCI Express学习篇---物理层电气特性(三)Transmitter Compliance Test_第6张图片

 

 

 

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