基线漂移解决方法

最近在做光电离传感器的测试。传感器输出信号经过一个仪表放大器后被MCU接收。在测试过程中，发现MCU输出的数据信号，基线时常会发生漂移，噪声水平在1mV左右。希望能够找到一个好的方法，稳定基线，降低噪声。

首先，想办法使基线稳定：

软件上解决

软件上通常采用算法进行解决，【20220114】【信号处理】什么是基线漂移/趋势项？如何消除？。目前并不适合我。我希望能够从硬件的角度解决基线漂移。

硬件上解决

实验现象表明，基线漂移的首要原因由温度引起。目前，猜测可能导致基线漂移的原因是由于仪表放大器的输入端所接的电阻的性能不够好。由于电阻性能不好，电阻在温度升高的情况下，会出现阻值降低，从而使仪表放大器的输入电压降低，在输出端产生基线的波动。

解决方法可以是，将仪表放大器输入端所接的电阻更换为低温漂，高精度的电阻。这样在温度发生剧烈变化时，输入端所接电阻能够稳定在一个阻值，不发生太大的变化，从而使仪表放大器的输入电压保持稳定，最终输出端基线稳定，不产生波动。