【芯片设计- RTL 数字逻辑设计入门 番外篇 7 -- 芯片生产 ATE 测试 介绍】

文章目录

    • ATE 概述
    • ATE 测试介绍
      • Scan Chain
      • ATE 测试与 Scan Chain 的关系
      • 示例
    • ATE 测试向量
      • 输入向量
      • 预期输出
      • 测试模式
      • 举例

ATE 概述

广义上的IC测试设备我们都称为ATE(AutomaticTest Equipment),一般由大量的测试机能集合在一起,由电脑控制来测试半导体芯片的功能性,这里面包含了软件和硬件的结合。

不同的芯片类型则有不同的测试方法和要求。
芯片类型

  • 模拟芯片 (Analog):模拟是一个可以拉开来慢慢说的概念。简单来说,就是感知物理世界的接口。信号的特征上来说&

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