数字电路实验1:4联装7段数码管管脚功能、传统实验箱非门延迟、fpga各种虚拟门特性及边沿检测器
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目录
第一组数字电路实验报告一
一、 实验室环境与仪器
1. 实验环境
2. 实验仪器
二、 实验内容
（1） 测量4联装7段数码管管脚功能
（2） 测量74LS00与非门管脚功能与门延迟（使用传统实验箱）
（3） 74LS197产生测试信号（使用FPGA实验箱）
（4） FPGA虚拟逻辑门性能测试——测量虚拟与非门特性
（5） FPGA虚拟逻辑门性能测试——测量虚拟非门特性
（6）FPGA虚拟逻辑门性能测试——测量虚拟与门特性
（7） FPGA虚拟逻辑门性能测试——测量虚拟与非门特性
（8）FPGA虚拟逻辑门性能测试——测量虚拟或门特性
（9）FPGA虚拟逻辑门性能测试——测量虚拟异或门74LS86特性
（2） -（9）分析总结：
（10） 设计边沿检测器——使用虚拟逻辑门设计实现上升/下降沿脉冲发生器
- 实验室环境与仪器
- 实验环境
实验时间：2022.11.3 气温：19℃ 地点：教学大楼A412
2.实验仪器
示波器/逻辑分析仪 MSO5354
函数信号发生器 DG4202
实验箱
万用表 DM3058
元器件
- 实验内容
- 测量4联装7段数码管管脚功能
实验过程：使用万用表二极管功能，依次重复连接数码管各引脚。
经测量，7段数码管abcdefgdp和公共端1234的管脚如图所示：
- 测量74LS00与非门管脚功能与门延迟（使用传统实验箱）
波形说明：蓝色表示输入（与非门的两个输入连通，也就是输入是相同的信号），黄色为输出。根据与非门的功能，当两个输入为高电平，那么输出为低电平；当两个输入为低电平，那么输出为低电平。
经测量，门延迟为22.6ns。
过程：放大之后，运用游标测量功能，选取输入下降沿中间和输出上升沿中间，记录AB游标之间的时间间隔。
- 74LS197产生测试信号（使用FPGA实验箱）
D0、D1、D2、D3为输出，输入输出波形如下：
波形说明：
D0~D3对应197的Q0~Q3（即计数输出的低位到高位），D4（上图中红色的那条）是输入的clk信号。
可以看出D0信号周期是D4的两倍，D1信号周期是D0的两倍，D2信号周期是D1的两倍，D3信号周期是D2的两倍。
宏观上看D0D1D2D3依次输出：0000,0001,0010,0011,0100......也就是十进制（0~15）对应的二进制。
信号的异常错位现象如下：
波形说明；
上图中D0~D3对应197的Q0~Q3，可以看到计数改变的时候D0~D3不是同时变化的。上图中可以看出D0先发生改变，所以大概在计数后55ns左右的时间段内会产生错误的变化。
- FPGA虚拟逻辑门性能测试——测量虚拟与非门特性
测试信号接入虚拟与非门芯片74LS00，D0为输入，D1为输出，输入输出波形如下：
经测量得，与非门的延迟大概为59.6ns。
波形说明：上面两条是输入信号（输入的信号是相同的）,下面那一条是与非门的输出信号。当两个输入从低电平上升到高电平，输出讲从高电平下降到低电平。
（5） FPGA虚拟逻辑门性能测试——测量虚拟非门特性
测试信号接入虚拟非门芯片74LS04，D0为输入，D1为输出，输入输出波形如下：
波形说明：
上面的信号为非门的输入信号，下面的信号为非门的输出信号。
经测量得，非门的延迟大概为12.79ns。
波形说明：
当输入信号从高电平下降到高电平，输出信号将从低电平上升到高电平。
（6）FPGA虚拟逻辑门性能测试——测量虚拟与门特性
测试信号接入虚拟与门芯片74LS08，D0、D1为输入，D2为输出，输入输出波形如下：
经测量得，与门的延迟大概为51.8ns。
（7） FPGA虚拟逻辑门性能测试——测量虚拟与非门特性
测试信号接入虚拟与非门芯片74LS20，用74LS197的四个输出作为与非门的四个输入，输入输出波形如下：
波形说明：
上面四条（D0~D3）该与非门的输入信号（实际是74ls197的输出信号），D4(最下面那个信号）是与非门的输出信号。可以观察到，只有当D0~D3输入为1111时，与非门才输出低电平，这与四输入与非门的真值表是对应的。
经测量得，与非门的延迟大概为55.99s.
波形说明：
当输入信号的任意一个为低电平，与非门将输出高电平。所以我们把A游标对准首先发生下降的D0的下降沿，B游标对准输出的上升沿。
（8）FPGA虚拟逻辑门性能测试——测量虚拟或门特性
测试信号接入虚拟或门芯片74LS32，D0、D1为输入，D2为输出，输入输出波形如下：
波形说明：D0、D1为输入信号，D3为输出信号。
可以观察到只有两个输入都是低电平时，才输出高电平。
这与或门的真值表是对应的。
经测量得，或门的延迟大概为53.2s。
波形说明：
当两个输入从高电平下降到低电平，或门也将从高电平下降到低电平。
所以我们将A游标对应到后下降的输入信号。
（9）FPGA虚拟逻辑门性能测试——测量虚拟异或门74LS86特性
测试信号接入虚拟异或门芯片74LS86，D0、D1为输入，D2为输出，输入输出波形如下：
波形说明：
D0、D1为输入信号，D3为异或门的输出信号。可以看到D0D1同时为高电平或低电平时，异或门输出低电平；否则输出高电平。这与异或门的真值表是对应的。
经测量得，异或门的延迟大概为53.2s。
波形说明：
D0D1为低电平，当D0上升到高电平而D1保持不变时，异或门从高电平下降到低电平。
- -（9）分析总结：
从实验测量的结果来看，FPGA虚拟逻辑门的延迟会比真实的芯片的延迟要高一些，在上面的实验测试中，我们可以看到模拟与非门的延迟（22.6ns）还不到FPGA虚拟与非门延迟（59.6ns）的一半。这应该是因为虚拟逻辑门实际运作的电路会比真实芯片要复杂。
此外，不同的FPGA虚拟逻辑门的延迟也会有所不同，这是因为它们的复杂程度不同，在上面的实验测试中虚拟非门的延迟最低，虚拟与非门的延迟最高。
- 设计边沿检测器——使用虚拟逻辑门设计实现上升/下降沿脉冲发生器
上升沿：
设计方法：将一个输入与它的反相同时通过一个与门。
其中D0为输入，D1为输出，当检测到D0的上升， D1将输出一个脉冲，发生器的输入输出波形如下：
脉冲宽度：16.99ns
下降沿：
设计方法：将一个输入与它的反相同时通过一个或门（还可以在最后加一个非门）。
当检测到D0的下降， D1将输出一个（负）脉冲。其中D0为输入，D1为输出，发生器的输入输出波形如下：
脉冲宽度：12.01ns
【反思】最后一个实验中，测量脉冲宽度时，由于采用数字信号输入没有严格按照测量上升沿和下降沿幅度50%处的时间间隔，导致实验结果有一定误差。
而且总体上来讲我们在各实验中延迟的测量只在一处地方测了，所以容易受到偶然因素的影响，增大误差。