工序能力指数Cp判定标准（附免费CPK计算工具）

有工序能力强的工艺才可能生产出质量好、可靠性水平高的产品。工序能力指数是一种表示工艺水平高低的方便方法，其实质作用是反映工艺成品率的高低。

传统工业生产对工序能力指数Cp的要求是Cp值在1~1.67范围内均满足要求，相应的工艺成品率在99.73%~99.999971%之间。如果Cp大于1.67，认为能力过剩，是一种资源浪费。但是现代工业生产以突破了这一传统观念。

在传统的工业生产中，如果工序能力指数Cp大于1.67，认为工序能力过剩，是一种资源的浪费。但是，在现代工业生产中，特别是在现代电子元器件的生产中，工业不合格品率已降至PPM（Parts per million）水平，即只有百万分之几。期间失效率也降至几十非特。为了满足这种高质量和高可靠水平元器件的生产要求，对工序能力指数的要求也随之发生了变化。

以微电子器件为代表的现代元器件生产一般包括几十甚至上百道工序。在不合格品率很低的情况下，产品的不合格品率近似等于各道工序工艺不合格品率的总和。为了保证产品的质量，要求单道工序的工艺不合格品率只能为几个PPM。因此，现代电子工业生产对生产线的要求时工序能力指数Cp不低于2.0，这样，即使T0与μ偏离为1.5σ，实际工序能力指数Cpk仍能达到1.50，对应的工艺不合格品率仅为3.4PPM。

在涉及工序能力指数的评价时，一定要明确所说的是Cp还是Cpk，因为μ与T0之间不可避免地存在偏离。一般情况下偏离为1.5σ，则Cp与Cpk相差达0.5。例如传统工序能力指数要求指的是潜在工序能力指数Cp，认为Cp大于1.67为能力过剩。而且前国际上对现代电子工业生产工序能力指数要求的是实际工序能力指数Cpk不小于1.5。

如上所述，工序能力指数Cpk的大小反映了工艺成品率的高低。现代工业生产对工序能力指数提出了Cp不小于2.0、Cpk不小于1.5的要求，以保证工艺不合格品率不大于3.5PPM。显然，现代电子工业生产对工序能力指数的要求已突破了传统概念的要求。

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