###### 本系列博文为华成英教授的《模拟电子技术基础(第四版)》学习笔记 ###########
【N型半导体】
在纯净的硅晶体中掺入五价元素(如磷),使之取代晶格中硅原子的位置,就形成了N型半导体
显然现在多出了一个电子,该电子不被束缚,成为了自由电子,所以N型半导体中,自由电子浓度大于空穴的浓度,称自由电子为多数载流子,空穴为少数载流子
所以N型半导体主要靠自由电子导电
【P型半导体】
在纯净的硅晶体中掺入三价元素(如硼),使之取代晶格中硅原子的位置,就形成了P型半导体
由于杂志原子外有3个价电子,少了一个,就多出一个空穴,所以P型半导体中,空穴为多数载流子,自由电子是少数载流子,靠空穴导电
【PN结】
P型半导体和N型半导体交界面就形成PN结。PN结有单向导电性。
【PN结的形成】
1】由于两边的多数载流子不一样使得各自都有浓度差,这样由于扩散运动,多数载流子会往对面区域扩散
2】由于扩散运动使P区与N区的交界面缺少多数载流子,形成内电场,从而阻止扩散运动的进行
3】参与扩散运动和漂移运动的载流子数目相同,达到动态平衡,就形成了PN结
【PN结正向导通】
当电源的正极接到PN结的P端,且电源负极接到N端时,称为PN结外加正电压,也称正向偏置
此时外电场将多数载流子推向空间点合区,使其变窄,削弱了内电场,破坏了原来的平衡,使得扩散加剧漂移运动减弱,PN结导通
【PN结反向截止】
当电源正极接到PN结的N端,且电源的负极接到PN结的P端时,称PN结外加反向电压,也称反向接法或者反向偏置
此时外电场使得空间电荷区变宽,加强了内电场,阻止扩散运动的进行,而加剧漂移运动的进行,形成反向电流,称为漂移电流,但是由于少数载流子数目少,电流小,所以忽略不计,我们称PN结此时截止
【PN结伏安特性】
当反向电压超过一定数值后,反向电流急剧增加,称为反向击穿
因耗尽层宽度变窄,不大的反向电压就可以在耗尽层形成很强的电场,而直接破坏共价键,致使电流急剧上升,称为齐纳击穿
新产生的电子与空穴被电场加速后又撞击其他价电子,载流子雪崩式增加,电流急剧增加,这种击穿称为雪崩击穿
【PN结的电容效应】
PN结外加电压变化时,空间电荷区的宽度将发生变化,有电荷的积累和释放过程,与电容充放电相同,效果称为势垒电容Cb
PN结外加的正向电压变化时,在扩散路程中载流子浓度及其梯度均有变化,也有电荷的积累和释放过程,称为扩散电容Cd
结电容Cj = Cb + Cd
【杂志半导体总结】
本征半导体中掺入不同价的元素形成N型半导体和P型半导体,N型半导体多数载流子是自由电子,而P型是空穴,这使得将他们放在一起时,在交界面会形成PN结。
PN结的形成是扩散运动和漂移运动的共同结果,PN结外加正电时,扩散加剧,PN结导通,外加负电时,漂移运动加剧,但是少数载流子数量少,电流小,忽略不计,称为PN结截止。
PN结方向电压太高会被击穿,造成永久性损坏,同时在PN结外部电压变化时,会有电容效应