双天线和差测角matlab / FPGA开发

双天线和差测角matlab / FPGA开发

  • 常规单脉冲和差比幅测角原理
  • 和差幅度测角matlab
  • 基于FFT的频域单脉冲比幅测角原理
  • 基于FFT的和差幅度测角matlab
  • 和差幅度测角FPGA / 解模糊

常规单脉冲和差比幅测角原理

  设方位(或俯仰)平面内单个波束的方向图函数为 F ( θ ) F(\theta) F(θ),两波束各自相对天线轴线的波束偏角为 δ \delta δ,设目标偏离天线轴线的角度为 θ \theta θ,则有
F ∑ ( θ ) = F ( δ − θ ) + F ( δ + θ ) = F ( θ − δ ) + F ( θ + δ ) F Δ ( θ ) = F ( δ − θ ) − F ( δ + θ ) = F ( θ − δ ) − F ( θ + δ ) F_{\sum}(\theta)=F(\delta-\theta)+F(\delta+\theta)=F(\theta-\delta)+F(\theta+\delta)\\F_{\Delta}(\theta)=F(\delta-\theta)-F(\delta+\theta)=F(\theta-\delta)-F(\theta+\delta) F(θ)=F(δθ)+F(δ+θ)=F(θδ)+F(θ+δ)FΔ(θ)=F(δθ)F(δ+θ)=F(θδ)F(θ+δ)
   F ∑ ( θ ) F_{\sum}(\theta) F(θ)表示和通道和方向图, F Δ ( θ ) F_{\Delta}(\theta) FΔ(θ)表示差通道差方向图,和差通道方向图函数如图所示。
  对于单脉冲信号,和通道接收信号 E ∑ E_{\sum} E以及差通道接收信号 E Δ E_{\Delta} EΔ可以分别表示为
E ∑ = A ∑ ( θ ) e x p ( − j 2 k R ) E Δ = A Δ ( θ ) e x p ( − j 2 k R ) E_{\sum}=A_{\sum}(\theta)exp(-j2kR)\\E_{\Delta}=A_{\Delta}(\theta)exp(-j2kR) E=A(θ)exp(j2kR)EΔ=AΔ(θ)exp(j2kR)
  式中, k = 2 π λ k=\frac {2\pi}{\lambda} k=λ2π是波数,R是目标和观测点之间的相对视线距离。
  将差方向图函数展开成麦克劳林级数,用差通道信号比上和通道信号就可求得目标偏离天线轴线的角度,那么 θ \theta θ可表示为
θ = E Δ E ∑ = A Δ ( θ ) A ∑ ( θ ) \theta=\frac {E_{\Delta}}{E_{\sum}}=\frac {A_{\Delta}(\theta)}{A_{\sum}(\theta)} θ=EEΔ=A(θ)AΔ(θ)

和差幅度测角matlab

(1)方向图仿真结果
双天线和差测角matlab / FPGA开发_第1张图片
双天线和差测角matlab / FPGA开发_第2张图片
(2)测角结果
双天线和差测角matlab / FPGA开发_第3张图片

基于FFT的频域单脉冲比幅测角原理

  设目标上有M个散射点,则目标整体的回波经过混频解调处理后可以表示为
E ( t ) = ∑ i = 1 M A i ( t ) e x p ( − j k R i ) E(t)=\sum_{i=1}^{M}A_{i}(t)exp(-jkR_i) E(t)=i=1MAi(t)exp(jkRi)
  式中, k = 2 π λ k=\frac {2\pi}{\lambda} k=λ2π是波数, A i ( t ) A_{i}(t) Ai(t) R i R_i Ri分别表示第i个散射点的回波幅度和距离观测雷达的径向距离。在高重频体制下,可以近似认为在一帧的信号处理周期内弹目相对径向加速度不变, R i R_i Ri可以进一步表示为, R i = R i 0 − ( V i 0 t + 0.5 a i t 2 ) R_i=R_{i0}-(V_{i0}t+0.5a_it^2) Ri=Ri0(Vi0t+0.5ait2), R i 0 R_{i0} Ri0, V i 0 V_{i0} Vi0 a i a_i ai分别表示第i个散射点距离观测雷达的初始径向距离,初始相对径向速度和相对径向加速度,将其代入上式可得
E ( t ) = ∑ i = 1 M A i ( t ) e x p ( j 2 π f i d t − j k R i 0 ) E(t)=\sum_{i=1}^{M}A_{i}(t)exp(j2\pi f_{id} t-jkR_{i0}) E(t)=i=1MAi(t)exp(j2πfidtjkRi0)
  下面以单个散射点为例来推导基于频域仿形的单脉冲比幅测角过程。考虑第i个散射点的回波信号,经过采样得到的数字信号表示为
E i ( n ) = A i ( n ) e x p ( j 2 π ω i d n − j 2 k R i 0 ) E_{i}(n)=A_i(n)exp(j2\pi\omega_{id}n-j2kR_{i0}) Ei(n)=Ai(n)exp(j2πωidnj2kRi0)
  式中 ω i d \omega_{id} ωid表示数字多普勒频率, ω i d = f i d T \omega_{id}=f_{id}T ωid=fidT, T T T是采样周期。回波信号进入和、差通道后分别得到输出信号
E i ∑ ( n ) = A i ∑ ( n ) e x p ( j 2 π ω i d n − j 2 k R i 0 ) E i Δ ( n ) = A i Δ ( n ) e x p ( j 2 π ω i d n − j 2 k R i 0 ) E_{i\sum}(n)=A_{i\sum}(n)exp(j2\pi\omega_{id}n-j2kR_{i0})\\E_{i\Delta}(n)=A_{i\Delta}(n)exp(j2\pi\omega_{id}n-j2kR_{i0}) Ei(n)=Ai(n)exp(j2πωidnj2kRi0)EiΔ(n)=AiΔ(n)exp(j2πωidnj2kRi0)
  对和、差通道的输出信号分别做FFT处理,得到和、差通道的输出信号频谱表达式如下
X i ∑ ( l ) = F F T [ E i ∑ ] X i Δ ( l ) = F F T [ E i Δ ] X_{i\sum}(l)=FFT[E_{i\sum}]\\X_{i\Delta}(l)=FFT[E_{i\Delta}] Xi(l)=FFT[Ei]XiΔ(l)=FFT[EiΔ]
以但散射点为例,用第i个散射点的差通道频谱分量比上和通道频谱分量,可以得到第i个散射点的角度测量公式如下
θ i = X i Δ ( l i ) X i ∑ ( l i ) \theta_{i}=\frac {X_{i\Delta}(l_{i})}{X_{i\sum}(l_{i})} θi=Xi(li)XiΔ(li)

基于FFT的和差幅度测角matlab

(1)16点滑窗FFT
双天线和差测角matlab / FPGA开发_第4张图片

(2)32点滑窗FFT
双天线和差测角matlab / FPGA开发_第5张图片

(3)64点滑窗FFT
双天线和差测角matlab / FPGA开发_第6张图片

(4)128点滑窗FFT
双天线和差测角matlab / FPGA开发_第7张图片
  从测角结果可以看出,基于FFT的和差幅度测角相较于常规和差幅度测角精度有所提升,同时128点滑窗FFT测角误差最小

和差幅度测角FPGA / 解模糊

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