凯智通 OV2675-P 摄像头芯片测试座

凯智通 OV2675-P 摄像头芯片测试座

OV2675测试治具特点：1.座头采用手动翻盖结构，操作灵敏。2.座头顶盖的芯片压块采用人性化结构，下压力度平稳，保证IC的压力均匀，不偏移。3.探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层，接触性能稳定, 保护锡球外形。4.理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位精确。5.特殊IC载板结构，保护探针不受外力损坏。6.探针：进口探针，铍铜镀硬金、铑。7.维修成本低：方便更换探针，成本低效率高。8.成熟加工精度范围：跳距pitch=0.4mm。