【HISI IC萌新虚拟项目】test_core模块方案文档

该文档为test_core spec，仅为参考，如果在进行本系列虚拟项目的学习与实践，请自行完成本部分内容。 

1.Introduction

用于对 SRAM 实现自动的可配置地址线、数据线故障检测。

1.CPU 控制

CPU 向芯片的工作模式选择寄存器写入0xXXXX_XX55后，芯片进入扫描工作模式， 并启动一次自动扫描测试(包括数据线故障扫描测试和地址线故障扫描测试两个部分) 。在自动扫描测试过程中，CPU可随时读取测试状态寄存器来判断当前的测试状态与结果。当 一次自动扫描测试结束后，CPU可决定是否继续进行扫描测试：若需要再次扫描，CPU再次向工作模式选择寄存器写入 0xXXXX_XX55来启动下一次扫描测试；在扫描测试过程中或扫描测试结束后，若不再扫描，CPU向工作模式选择寄存器写入 0xXXXXX_XXAA来结 束扫描，进入正常工作模式。若CPU无动作，则扫描结束后，进入扫描IDLE 状态，直到CPU 向工作模式选择寄存器写入 0xXXXX_XXAA ，才进入正常工作模式。

扫描工作状态寄存器 (TEST STATUS) 中的test_status_a[1:0]和 test_status_b[1:0]说明 了当前A端口和B端口的工作状态：(1) 扫描未启动或强行结束、不忙 (2b00) ；(2)  扫描未结束、正忙 (2b01) &#x