影响计算机关键性能参数测试研究,基于Labview软件的ADC计算机辅助测试系统设计...

摘要：在CMOS图像传感器中，A/D起着“承上启下”的作用，承接前端传来的信号，转换成数字后输出，其性能指标直接影响着整个系统的优劣。随着ADC速度和精度的提高，如何高效、准确地测试其动态和静态参数是ADC测试研究的重点。文中阐述了ADC的参数及其测试的原理和方法，并基于Labview软件和数据采集卡构建了ADC的软硬件测试平台，实现了低成本、高可靠性的高精度ADC计算机辅助测试系统。本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/235502.htm

随着CMOS技术的迅猛发展，CMOS图像传感器以其高集成度、低功耗、低成本等优点，已广泛用于超微型数码相机、PC机电脑眼、指纹识别、手机等图像采集的领域。

CMOS图像传感器的工作流程可以简单表述为：外界光信号由像素阵列采集并转换为模拟信号，再通过读出电路传输给A/D转换器，最后交于后续数字电路进行处理。由此可见，A/D转换器在整个CMOS图像传感器中起着“承上启下”的作用，其性能指标直接影响着整个系统的优劣，从而使得ADC的性能测试变得十分重要。

目前业界已经存在一些通用的ADC测试方法，例如针对静态指标测试的直方图法，针对动态指标测试的快速傅式变换法，以及专门针对ENOB的正弦波适应法等，但是还没有单一的测试方法能够有效测试出所有的ADC参数。

ADC测试需要解决成本和效率的问题，故需要根据ADC典型应用的环境，选取一些关键指标和有效的测试方法，制定合理的测试方案。本文中ADC主要用于CMOS图像传感器的数字输出，结合Labview软件分析程序和测试仪器，搭建了一套ADC综合性能测试系统。

1 ADC性能测试系统

1.1 ADC性能参数