JTAG/SWD调试原理

调试原理

原理简析

   STM32F4xx的内核是Cortex（TM)-M4F,该内核包含用于高级调试功能的硬件。利用这些调试功能，可以在取指（指令端点）或访问数据（数据端点）时停止内核。内核停止时，可以查询内核的内部状态和系统的外部状态。查询完成后，恢复内核和系统并恢复程序执行。

调试接口

1、串行接口（SWD）
提供连接AHP-AP端口的5引脚标准JTAG接口，图右侧五个引脚
代码中为：PA13 PA14 PA15 PB3 PB4

2、JTAG调试接口
提供用于连接AHP-AP端口的2引脚（时钟+数据）接口，图中的SWDIO和SWCLK两个引脚，代码中即PA13 PA14

调试工具

JLINK

usb口连接电脑，排线连接开发板。

调试方法

设置方法（了解）

void GPIO_PinAFConfig(GPIO_TypeDef*GPIOx,uint16_tGPIO_PinSource,unit8_t,gpio_AF);

系统复位默认为AF0;各端口默认连接JLINK相应的引脚。

配置JLINK（回顾）

选择两种调试方法：

选择速度：

选择芯片，即可用JLINK下载调试程序

debug

点击按钮


三个按钮分别是：执行函数内部、按行执行代码、跳出函数、代码执行到光标处。
设置断点，即可调试。