ADC之前的信号调理,最根本的原则就是信号调理引起的噪声和误差要在ADC的1个LSB之内。根据这个原则,可以选择指标合适的运放。至于多路ADC同步的问题,一般在高速ADC的数据手册中都会有一章来介绍多片同步问题,可以看相关数据手册中的介绍。
一般ADC都有信噪比SNR或者信纳比SINAD这个参数,SINAD=6.02*有效位数+1.76,您可以根据这个公式来确定所选择的ADC能否符合要求。
一般来讲,ADC的offset和gain error会比较容易校准。只要外接0V和full scale进行采样,然后得到校准系数。另外,如果需要作温度补偿的话,一般需要加一个温度传感器,然后利用查表的方式来补偿。
ADC和DAC属于模拟数字混合型器件,在布局布线时最重要的是要注意模拟地和数字地的处理分离问题。对于高采样率的器件,建议使用一块地。而低采样率的器件,建议模拟数字地分开,最后在芯片下方连接在一起。
其他的布局布线规范与其他器件的是一样的。
低速模数转换器的精度用峰峰值分辨率,有效值分辨率来表示。在ADI一些Sigma-delta ADC的芯片资料里都会列出不同情况下的有效值分辨率指标。高速模数转换器的精度可用SNR,SNOB来表示,这些指标也可在数据手册中找到。
但一般ADC的指标中不会有噪声系数(NF)的指标。
可以选择电阻很小的开关比如ADG14系列。如果开关是做通道切换的,在后级加一个运放跟随就可以了。如果是做量程切换**,只能选择电阻很小的开关,同时注意开关的平坦度和温度漂移参数,如果系统精度要求很高,那就只能做软件校正或者选择可编程放大器如AD8250/1/3等。
确认电源和基准的稳定性,在频率为25Hz,增益为1的条件下,看数据手测上Table II可知其有效值分辨率为21.5bit,那么其实际的峰峰值分辨率为21.5-2.7=18.8bit,也就是说如果有5bit码在跳就是正常的。
如果传感器输出是共模干扰,需要加仪表运放如AD8221/0等滤除。如果是差模干扰,加滤波器就可以滤除。
没有16bit和16通道的ADC,可以选择用两片AD7689,16bit 8通道。或者选择16:1的ADG1206.要注意导通电阻,注入电荷,导通时间等。
可以;在读取数据的时候,只需要读8bit即可。
一般抗混叠滤波器指的是ADC前端的滤波器,而sigma-delta ADC内部会集成一些陷波器,来实现工频50Hz和60Hz陷波,总的好处就是ADC有更好的抗噪声性能。
在布局布线时可以考虑在相邻通道间加地屏蔽。
1)ADI的运放,仪放产品种类很多,根据详细的指标要求,去找对应符合要求的器件(筛查数据手册)。
2)ADC的量化噪声是固有的,没办法消除。
3)ADC的电源对测量精度有直接的影响。所以要选择高精度低噪声的电源信号,且在布线的时候也要注意避免干扰。
4)一般手册里会分别给出zero error,gain error等等,不知道具体问的是哪一个,或者可以举一个具体型号的例子。(具体器件给出)
5)这应该是DAC内部结构的问题,一般来讲,我们不关心内部电阻或电流源的绝对值,只关心它们之间的比例,现在的工艺可以很好地保证这个。
6)一般来讲,用0欧姆电阻连接就可以了。
14.ADC的内部增益越大,其产生的噪声也越大,专家能说说两者之间的原理是什么?
ADC内部的PGA增益越大,本身PGA的噪声会增加,另外ADC输入噪声被放大的越多。所以ADC内部增益越大,分辨率越小。
如果ADC有PSRR这个指标,可以使用这个指标去算电源纹波对ADC的影响。如果没有,一般基准源都有这个指标,你可以使用基准源的PSRR去算对ADC采样的影响。
高速ADC会考虑这些问题。尤其对于LVDS接口的ADC,尽量保证一对信号的布线等长等距,放置端接电阻。这方面的布局布线最好是参考评估板来做。
DAC的最大速度能达到2.5GHZ,它是AD9739电流输出型的,这不会影响到稳定性。
对于高精度的ADC,一般来讲都会给出一个有效分辨率的参数,也就是器件可以达到不跳码的位数。另外在设计中还有考虑电源,参考电压的噪声,以及ADC前端调理电路引入的噪声。需要把这些噪声控制在ADC的1个LSB之内。
实际上对于高速ADC来说,应该是加一个高精度的基准信号,而后用ADC采样,再做FFT分析来评估SNR。而对于低精度的ADC来说才是上述的办法,可以参考我们的应用笔记AN-835。【】
举个简单的例子,如果压摆率不够,那么就是实际的输出跟不上输入信号的变化,这样对信号的处理就会有失真。
高精度的ADC,比如16位及以上的ADC,不建议使用开关电源来供电。
在高速ADC场合,一般对电源的纹波和噪声有较高的要求。开关电源效率比较高,但是有较大的纹波和噪声,会对系统的精度有影响。而高速场合对SNR,SFDR要求比较高,所以选择LDO会比较好。
只有在高速的情况下才需要考虑阻抗匹配。
有可能。具体要看你ADC的位数和PSRR这个参数。如果位数很低如10bit,你用再低噪声的电源也只能是10bit精度。但是16bit系统,你如果使用噪声很大的电源,会使得系统精度不能达到16bit。
取决于实际应用,理想情况下是截止频率等于有效的输入信号,而滚降特性是无限陡峭,但实际上没有这样的滤波器,且越接近理想情况,成本会越高,要折衷考虑。
加滤波器抑制,或者是对采样结果做数字滤波。
注意参考和电源的质量,同时还需要注意layout来防止噪声引入。
取决于ECG的信号链。如果信号链中为AC隔离,这样信号可以被放大很大,比如放大1000倍,这样ADC的选取12位16位。如果信号链为**DC隔离**,这样信号不能被放大很多,一般增益为10,这样ADC的位数就得选的大些,18位24位。
ECG产品会有相应的标准,即ECG产品最小能分辨多小的信号,ADC的选取与此也有关。
数模转换器是不会被淘汰的,因为最终都是要将数字信号转会人们能所识别的模拟信号。
选择合适的器件,DC-DC能工作在85度,关键是你选择合适的器件和合适的设计,使得系统的温升在其标定的范围,如加风扇或者散热片,多个器件并联提高电源效率等。
这种情况要用示波器监测输入信号,看输入端是否真的发生跳变了,如果没有请仔细检查ADUC841的数据读取程序。
一般来讲,根据计算公式,Vin/Vref=code/2^N. N为ADC的位数,Vin为输入电压,Vref为参考电压。如果是有负电压,需要考虑输出码字的类型,比如二进制补码等等。绝大多数ADC的数据手册中都会给出一个图来说明这个问题。(与位数有关,直流数大小有关)
建议参考芯片的评估板来做Layout设计。
尽量减少输入噪音(可以差分输入的ADC),减小电源噪音。设计合适的滤波器等。
基准芯片资料中会有相关温度对基准影响的温度系数指标,一般为几个ppm/°C。一般ADC芯片资料没有参考电压随温度变化对ADC性能影响的测试参数。
实际中是加一个高精度的基准源,而后用ADC采样,再做FFT分析,具体请见AN-835上面的介绍。
加入LC滤波,合理的layout如模拟地数字地分开。如果还不行,只能加低噪声的LDO。
一般情况下都是做线性校正的,如果校正后还不能满足要求,那建议采用分段校正的方法。
和单端的输入相比,外围的电路相对复杂一些。
选型;功能;引脚;封装;典型应用;寄存器等。
采样率由待处理信号的频率决定。存储器带宽由采样率和处理器能力来决定。
取决于应用,理想情况下就是只让有效带宽内的信号通过,但滤波器设计很难达到理想情况,所以要折衷考虑。
主要是要看所需要转换的视频信号格式,需不需要做色彩空间转换。是普通的并口接口还是HDMI的接口。
这是由ADC的内部参数决定的,具体要看不同型号的数据手册。
对一个特定的ADC来说,它的Offset误差和Gain误差基本是一定的。但是Offset误差和Gain误差是可以通过软件校正消除的。
要先确定错误代码是ADC输出错误还是MCU读取错误。如果是前者,那得看系统的设计是否合理,布局布线是否合理。(找出错误在哪!)
ADC的模拟地通过一点接入开关电源输出滤波电容的地会减小电源纹波对ADC的影响。
指的是电源电压抑制比。
导致这个问题的原因有很多种:输入信号源的范围,参考电压源的值,噪音的影响等等。
因为采样不是理想,而是无限逼近的概念。
这两个指标都比较重要
尽量将模拟地和数字地分开,为了避免相互的干扰。但是在高速的ADC应用中,数字和模拟要求共地。
串行接口的ADC一般转换速度比较低,在10M以下,但是封装,读取会比较方便。你可以先看看你需要的位数,以低于10M的速度能不能满足你的要求。另外关键是MCU和ADC的接口,是使用模拟的SPI还是MCU的标准SPI接口。
不需要做补偿。ADC中内部已经做了相关的补偿。
ADC需要接在系统的模拟部分。
FPBW与芯片的Slew Rate有关,当要把信号放大时,如果Slew Rate跟不上,输出信号就会失真。FPBW = SlewRate/2piVp,Vp为输出信号的电压。
可以考虑在RC滤波后加一级运放做buffer.
ADC转换会受到Noise的影响,如果ADC转换的结果与理论值大概相等,那么可以通过在同一个输入电压上读多次转换结果,将转换结果平均来得到更为准确的值。
一般来讲,ADC前端需要加一个滤波,滤掉把有用带宽以外的噪声。
考虑ADC前端的抗混叠滤波器的设计,阻抗匹配,输入输出的阻抗。
使用内部参考电压,由于参考电压在ADC转换时会sink/source电流,这会影响ADC的电源电压,进而影响ADC的SNR。一般系统精度要求很高的场合常使用外部参考。
14bit的ADC最高为150MSPS。
DNL不连续会导致丢码,这个问题没有办法在外部做补偿,这是ADC本身的特性。ADI的ADC都是保证没有丢码的问题存在的。
你可以加LDO或者LC滤波器减小电源纹波和噪声。一般ADC的PSRR会比较高,位数低的ADC如10bit对电源要求不高,但高位数的ADC如16bit对开关电源要求比较高。开关电源频率选择和功率,效率有关。普通的开关频率一般选择为100KHz-300KHz。
采用多个ADC芯片效果会更好。因为单芯片多通道的芯片,通道之间会有干扰。
对于高频的要用高精度的基准源,高精度的可以将输入端短路来测试ADC本身上的噪声特性。
会有好处。你可以选择低噪声的LDO。
一般来讲ADC不需要考虑这个,而是在电源端考虑电磁干扰抑制。如果用到高速的数字器件或者时钟的话,可以考虑加一个屏蔽罩。
陷波器就是将某一频率下的干扰做足够的衰减,可以理解为带阻滤波器,而抗混叠滤波器可以理解为低通滤波器。
混叠是由于采样率<2倍的信号频率是产生的,这是会使得滤波器的设计变得困难,从而噪声的滤除变得困难,SNR也会受到影响。
这要看你开关电源的EMC处理情况,如果开关电源EMC/I处理不好,系统就有EMI/C问题。由LDO向ADC供电改为使用开关电源向ADC供电可能会影响ADC的精度。
直接单端测量就可以。
对于用户端来说,都是用CPU控制ADC的通信接口,这并不复杂。
布局布线的时候要尽量考虑信号线的回流路径,使得回路面积尽量小。
如果输入信号本身的噪声只要12位,而且无法通过处理来降低噪声,那么就不要使用16bit的ADC。
最好是有一层电源平面,就近将AVCC接到电源上,注意电容的分布。新设计建议使用AD7656-1,与AD7656相比,-1电源引脚上需要的电容较少。
AD8628、AD8638
数字电源可以通过一个磁珠后从模拟电源引出。如果允许,尽量使用分离的电源芯片为模拟和数字电源供电。
可以用单电源供电,但要注意AD620的Reference需要接到0.5的电源电压处。
只能通过提高采样率或滤波。
对于高精度的应用,可以把输入端短路来测输出,如果干扰依然不变,就应该是电源和参考等引起的。
相同的是加入去耦电容来消除干扰。layout可能有些不同,高速ADC一般采样地平面,就近接地,低速一般是数字地模拟地分开,单点接地。
参考:http://www.elecfans.com/d/607444.html