STM32F030F4P6-提高ADC采集精度

STM32F0/F1系列的ADC都是12位的，通常情况下我们都需要将AD采集的码值进行转换得到实际的电压值，然后根据不同类型的传感器，换算为对应的温度、压力等数据。

常规的算法是，将ADC采集到的值ad_value用3.3V对应的码值（4095 = 2^12-1，因为是12的ADC）来进行换算，ad_value*3.3/4095，这种情况对于要求不是很高的场合可以适用，但是对于采样精度要求较高的场合就不合适了。因为电源电压3.3V通常都不是稳定的3.3V，所以采集的值会随着电源电压波动。

为了解决上述的问题，可以有以下几种解决办法：

1.外界电压基准芯片，如LM385,TL431；

2.利用芯片内部的电压基准；

第一种方法：

以LM385-2.5为例，将LM385的电压输出引脚接到PA0（任意ADC_INx都可以），假设PA0通道采集的码值为ad_cal，其他通道的采集的值ad_vaule，可以使用这个码值进行校准，ad_value * 2.5/ad_cal，得到的电压值相对来说更加准确（相对于ad_value*3.3/4095来说）。

第二种方法：

使用芯片内部的电压基准，STM32F030芯片，芯片内部0x1FFF F7BA-0x1FFF F7BB这个地址上存入了，在3.3V供电时，ADC_IN17通道采集的内部1.2基准的码值，如我实测的VREFINT_CAL = 1521，在进行ADC采集的时候，打开ADC_IN17这个通道，将得到的码值，如VREFINT = 1528(实测)，用来校准电源供电，校准后的电源供电时1528 * 3.3/1521 = 3.315，其他通道采集的ADC值ad_value，进行校准后得到的电压值(VREFINT/VREFINT_CAL) *( 3.3/4095)，经过此校准后ADC的采集精度可以达到0.1%，对于常规的应用来说，这个精度可以达到要求了。

下班了，下次再补充，也欢迎大家提出意见。