最常见的两类充电问题解析-电流小和类型识别错误

 

前言：充电问题在手机研发和其它的移动设备中是非常常见的一种类型，其中最主要的有两种：充电电流小和类型识别错误，那么在遇到这种充电问题时，我们究竟应该如何分析，才能一步步探究到问题的根源呢？本文即总结了一些常见的充电问题分析手段，以及该分析措施的原因，以便各位同仁更快的对问题进行定位（以MTK平台为例，高通平台同理）。

问题1：充电电流小，充电速度比预期的慢。

 

（1）首先确认两个值：AICR（IBUS限流）和ICHG的设置是否正确

——AICR（IBUS限流）设置的过低，会导致进入电池的IBAT也会被限制住。

 

（2）抓取MTKlog读取和测量真实的IBUS和IBAT电流值，判断系统功耗是否偏大，导致IBAT偏小

——IBUS较低的情况下，系统功耗大，导致IBAT被抽电。

 

（3）测量VBUS靠近charger IC端的电压，是否太低，比如低于4.5V（触发AICR/DPM导致限流）

——USB cable线的阻抗过高，PCB layout的VBUS走线又过细和过长，阻抗偏大，导致VBUS靠近charger IC端的电压偏低，充电器又功率不够。

 

（4）分析异常的log，确认是否进入thermal限流，可以尝试让主板降低温度的场景下充电，测试充电电流是否发生变化。

——thermal限流导致充电电流偏小。

 

（5）分析异常的log，并测试DP/DM的BC1.2波形，判断是否是charger type检测错误。

——charger type检测错误，导致充电电流异常。

 

（6）非powerpath以及线性充电，测量ISENSE电阻以及两端充电，是否符合预期。

——非powerpath充电，Isense电阻贴错，导致电流异常。

问题2：如何判断MTK平台的充电类型

 

最快捷的方法是通过log判断，我们可以在MTKlog中直接搜索关键词charger_thread即可搜索到关于充电类型的log如下：

 

CT:0

 

如上类似的log，其中CT就是chargertype的缩写，表示充电类型。

 

CT:0   /*未知，无法检测*/

CT:1   /*SDP*/

CT:2   /*CDP*/

CT:3   /*非标*/

CT:4   /*DCP*/