I2C eeprom调试经验

在写本文之前我不得不痛批ST的comtex-M3的I2C做得实在是太烂了！就这样一个简简单单的I2C，需要无数多的配置，无数多的寄存器，无数多的标志位，难道ST的目标就是把简单的东西复杂化么？复杂了就难用。另一方面，ST官方给的I2C eeprom例程中while死等的语句比比皆是，本来I2C就做得复杂，还四处布满死等代码，很容易在使用中让系统死机。

言归正传，前边的抱怨也是我调试I2C的起因。查过很多资料，普遍对于STM32I2C的在产品(不是实验室)中的使用表示需要谨慎，陷阱很多，bug很多。前前后后折磨了我估计有一个月吧，心里始终觉得官方的东西应该还是要好点，所以一直将就官方的代码在用，直到我的系统莫名奇妙的死机，究其原因是I2C操作引起为止，终于下定决心还是用模拟I2C。

目标平台是STM32C8T6+atmel的eeprom,通信总线为串行I2C总线。

调试过程遇到的问题：

1.字节写操作正常，但是字节读函数出错

原因：一厢情愿的认为写eeprom是在七位器件地址后添加写标志，则读eeprom也应该在七位期间地址后添加读标志，而事实上读eeprom也是在七位地址后添加写标志。

2.断续单字节读写正常，但是采用连续的单字节读写出错。

原因：eeprom写过程的结束并不是I2C总线写结束就结束，实际上I2C总线的写入数据先被保存到了eeprom内部的缓冲区，当遇到I2C结束条件后，eeprom才启动内部写过程，这个过程才是保存数据的过程。非常悲哀的是这个过程比较长，官方文档标注为5ms。如果在这5ms以内对eeprom芯片访问将被忽略。

3.查询eeprom写过程是否结束造成死机

官方文档说eeprom内部写周期最长为5ms，在很多情况下是远远低于5ms的，为了节约时间，官方给出一个解决办法。当写周期完毕后就开始进行应答查询，来确定eeprom写周期何时结束。所谓应答查询官方解释为：就是向eeprom发送一个I2C起始条件后发送器件地址和一个读写标志位，当eeprom完成内部写周期会回应一个ACK，这时MCU就可以进行正常的其他读写过程了。官方原文如下：

杯具就是始于我画红线的那句话，它说可以在器件地址后任意填写读写标志。我就填了读标志， 事实证明在eeprom写入过程采用读查询将导致系统死机，I2C总线不能被正常拉高，可能是eeprom内部已经把总线拉到了地！不管怎样，反正就是死机了。经过多次尝试最终发现应答查询只能采用写应答查询可以正常确定eeprom内部写周期的结束。

原因：运气太背了！

总结：对于前两个问题归结为自己看资料太不细致，没有认真看先关参数。对于第二个问题，只能说我必须得怪ATMEL! 

调试过程借鉴了"梅川酷子"的I2C代码，在此表示感谢！原文地址： http://blog.ednchina.com/kuge/1969761/message.aspx